物体尺寸测量.pdf

实验 利用线阵CCD 进行物体外形尺寸的测量 1. 实验目的 通过本实验掌握利用线阵CCD 进行非接触测量物体尺寸的基本原理和方法， 用实例探讨影响测量范围、测量精度的主要因素，为今后设计提供重要依据。 2. 实验准备内容 （1）利用线阵CCD 进行非接触测量物体尺寸的基本原理 线阵CCD 的输出信号包含了CCD 各个像元所接收光强度的分布和像元位 置的信息，使它在物体尺寸和位置检测中显示出十分重要的应用价值。 CCD 输出信号的二值化处理常用于物体外形尺寸、物体位置、物体震动（振 动）等的测量。如图2.3-1 所示为测量物体外形尺寸（例如棒材的直径D ）的原 理图。将被测物体A 置于成像物镜的物方视场中，将线阵CCD 像敏面恰好安装 在成像物镜的最佳像面位置上。 当被均匀照明的被测物体A 通过成像物镜成像到CCD 的像敏面上时，被测 物体成像出的黑白分明的光强分布使得相应像敏单元上存储载荷了被测物尺寸 信息的电荷包，通过CCD 及其驱动器将载有尺寸信息的电荷包转换为如图2.3-1 右侧所示的时序电压信号（输出波形）。根据输出波形，可以测得物体A 在像 方的尺寸 ，再根据成像物镜的物像关系，找出光学成像系统的放大倍率β，便 D 可以用下面公式计算出物体A 的实际尺寸D D D /  （2.3-1） 显然，只要求出 ，就不难测出物体A 的实际尺寸D 。 D 线阵CCD 的输出信号U 随光强的变化关系为线形的，因此，可用U 模拟 O O 光强分布。采用二值化处理方法将物体边界信息（图2.3-1 中的N 1 与N2 ）检测 出来是简单快捷的方法。有了物体边界信息便可以进行上述测量工作。 图2.3-1 物体尺寸测量系统的光学 系统 （2 ）二值化处理方法 图2.3-2 所示为典型CCD 输出信号与二值化处理的时序图。图中FC 信号为 行同步脉冲，FC 的上升沿对应于CCD 的第一个有效像元输出信号，其下降沿为 整个输出周期的结束。U 为经过反相放大后的输出电压信号。为了提取图2.3-2 0 所示U 信号所表征的边缘信息，采用如图2.3-3 所示的固定阈值二值化处理电路。 0 该电路中，电压比较器LM393 的正输入端接CCD 的输出信号U ，而反相输入 0 端接到电位器的动端，产生可调的阈值电平，可以通过调节电位器对阈值电平进 行设置，构成固定阈值二值化电路。经固定阈值二值化电路输出的信号波形被定 义为TH ，它为方波脉冲。 再进行逻辑处理，便可以提取出物体边缘的位置信息N 1 和N2 。N 1 与N2 的 差值即为被测物体在CCD 像敏面上所成图像占据的像元数目。物体A 在像方的 尺寸 为 D D (N2 −N1)L0 （2.3-2 ） 式中，N 1 与N2 为边界位置的像元序号，L0 为CCD 像敏单元的尺寸。因此，物 体的外径D 应为 (N −N )L D 2 1 0 （2.3-3 ）  +5V FC 8 U0 3