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BIST测试技术简介 摘要：内建自测试（BIST）是在电路设计时考虑到测试电路的需求，在芯片的内 部设计出调试电路，在电路内部植入测试生成、施加、分析和测试控制结构，从 而使得调试更加简单。随着集成电路规模的不断增长，soc 的需求也越来越大， soc 的测试变得越来越困难和重要，本文介绍内建自测试的基本概念和其特点， 并将它与其他测试方法的优缺点做一比较。 关键词：内建自测试；穷举测试；伪随机测试；DFT 测试比较 正文： 在超大规模集成电路 （VISL）技术迅猛发展的今天，集成电路工业已经达到了一个的高 度：