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? CP 评定准则 二、基本的统计概念 -CP&CPK 指数 C D 二、基本的统计概念 -CP&CPK 指数 二、基本的统计概念 -CP&CPK 指数 ? Ca 值定义及计算 制程准确度，衡量实际平均值与规格中心值的一致性 代表实际平均值距离规格边界距离 US L 1 — — USL 如图： 指过程分散平均值距离规格的边界有多远 表明过程是否真正满足规格要求 ? CPK 值定义 过程分布的一半 过程均值距离最 近的规格边界 二、基本的统计概念 -CP&CPK 指数 ? CPK 值计算 CPK=CP*|1-Ca|= 二、基本的统计概念 -CP&CPK 指数 既反映准确度与 反映精确度，为综 合指数。 当 Ca=0 时 CP=CPK ? CPK 值分析 制程能力好，中 心值在目标内且 分布均在规格内 制程能力尚可， 中心值在目标内 且分布均在规格 内但稍微太分散 制程能力尚可，中 心值有漂移，但分 布尚在规格内 二、基本的统计概念 -CP&CPK 指数 ? CPK 值分析 制程能力不好， 中心值虽目标内 ，但分布超出规 格界限 制程能力不好， 中心值不在目标 内，分布虽集中 但超出规格界限 制程能力最差， 中心值不在目标 内，分布不集中 且超出规格界限 二、基本的统计概念 -CP&CPK 指数 ? 指工序在一定时间里，处于受控状态（稳定状态）下的 实际加工能力。 它是工序固有的能力，或者说它是工序 保证质量的能力 。 ? 这里指的工序是指 设备、材料、工艺方法、生产环境、 操作者 等五个基本因素 综合 作用的过程，也就是产品质 量的生产过程。产品质量就是工序中的各个质量因素所 起作用的综合表现。 ? 工序的实际加工能力是指工序质量特性的 分散 ( 或波动 ) 程 度。 若工序能力 越高 ，则产品质量特性值的分散就 越小 ； 若工序能力 越低 ，则产品质量特性值的分散就 越大 。 ? 制程能力指数定义 二、基本的统计概念 -CP&CPK 指数 ? CPK 评定准则 二、基本的统计概念 -CP&CPK 指数 质量管理中的应用 不论μ 与 ? 取值如何，产品 质量特性落在 [ μ ? 3 ? ， μ +3 ? ] 范围内的概率为 99.73% 。 落在 [ μ ? 3 ? ， μ +3 ? ] 范 围外的概率为 1 ? 99.73%=0.27% 1. 正态分布图 ? 控制图的形成 三、控制图 ? 控制图的形成 3. 控制图的形成 把正态分布图 ( 直方图更直观 ）按逆时针方向转 90 °，并 将 及均值分别标成 LCL 、 UCL 、 CL ，再将点 按时间展开就得到如下一张控制图。 ? ? ? ? ? ? ? ? 3 3 , 三、控制图 界限说明： ? 规格界限：用以规定 质量特性 的最大（小） 许可值 。来保证 各个单位产品的正确性能。 上规格界限： USL ；下规格界限： LSL 。 ? 控制界限：是从实际生产出来的产品中抽取一定数量的产品， 并进行检测，从所得 观测值 中计算出来者。 上控制界限： UCL ；下控制界限： LCL 。 ? 控制图的形成 三、控制图 SPC 统计过程控制培训课件 (ppt 59 页 ) 统计过程能力控制 (SPC) 概述 1 基本的统计概念 2 统计过程能力控制 (SPC) 应用 4 统计过程能力控制 (SPC) 概述 1 一、统计过程能力控制 (SPC) 概述 ? SPC 起源与发展 1. 1924 年 W.A. Shewhart （休哈特）博士发明了品质控制图。 2. 1939 年 W.A. Shewhart 博士与戴明博士合写了《品质观点的 统计方法》。 3. 二战后美英将品质控制图方法引进制造业，并应用于生产过 程。 4. 1950 年，戴明到日本演讲，介绍了 SQC 的技术与观念。 5. SQC 是在发生问题后才去解决问题，是一种浪费，所以 发展 出了 SPC 。 6. 美国汽车制造商福特、通用汽车公司等对 SPC 很重视，所以 SPC 得以广泛应用。 7. ISO9000 （ 2000 ）体系亦注重过程控制和统计技术的应用。 一、统计过程能力控制 (SPC) 概述 ? Statistical: （统计）以概率统计学为基础， 收集 数