残余应力无损检测技术的进展.pdf

残余应力无损检测技术的进展 曾令太 朱世根 顾伟生 (东华大学机械学院，上海 200051) E-mail:lintyle@mail.dhu.edu.cn 摘 要:本文叙述了当前广泛应用于各领域的残余应力无损检测技术，包括其检测原理、测 试方法和应用特点，指出残余应力无损检测技术的研究工作仍将十分艰巨。 关键词:无损检测; 残余应力; 进展 0 引言 残余应力是当产生应力的各种因素不复存在时，平衡于材料内部的应力。实践表明，残 余应力的大小及分布影响材料的疲劳强度、抗应力腐蚀性、尺寸稳定性和使用寿命。因此， 对残余应力进行研究，具有十分重要的工程价值和意义。 残余应力检测技术始于上世纪30年代[1]。根据检测方法对被测试件是否造成破坏，可将 残余应力检测方法分为有损检测法和无损检测法。有损检测法利用机械加工或其它加工方法 将残余应力释放，测量残余应力释放产生的释放应变，主要有盲孔法、环芯法[2]、截条法等。 无损检测法利用材料物理性质的变化或晶体结构参数的变化测量残余应力，主要包括有X射 线法、磁性法、超声波法、扫描电子声显微镜、材料的拉压异性法和位移场重建法[3]等。在 本文中，笔者将着重介绍几种残余应力的无损检测技术。 1 X射线法 X射线衍射法最早由俄国学者Аκceнов于1929年提出，到了上世纪30年代，人们开始利 用X射线来测定多晶体的应力。1961年德国学者E.Macherauch提出sin2Ψ法后，逐渐成为X射 线应力测定的标准方法。随后，Gloeker将其简化成0°～45°法，由于其手续简单、节省时 间及对细晶材料误差不太大，在工业生产的宏观应力测定中得到了广泛应用。 1.1 检测原理 检测原理基于X射线衍射理论。在已知X射线波长λ的条件下，布拉格定律把宏观上可以 测量的衍射角2θ与微观的晶面间距d建立起确定关系。当材料中有应力σ存在时，其晶面间 距d必然随晶面与应力相对取向的不同而有所变化，按照布拉格定律，衍射角2θ也会相应改 变。因此可以通过测量衍射角2θ随晶面取向不同而发生的变化来求得应力σ。 1.1.1 sin2Ψ法[4，5] 在一确定的坐标系中，若空间任一应变ε 与主应变ε 、ε 、ε 的夹角为α、β、γ， 1 2 3 ψϕ 根据弹性力学原理有： 2 2 2 ε =ε cos α+εcos β+εcos γ (1) 1 2 3 ψϕ 根据广义虎克定律和微分布拉格定律经过变换可得： π 2(1+υ) 2 2υ ⋅∆(2 ) − ⋅tg ⋅sin Ψ⋅ + ⋅tg ⋅( + ) θ θ σ θ σ σ (2) 180 E 0 ϕ E 0 1 2 式中，E , υ 材料的杨氏模量和泊松比 - 1 - θ 无应力时衍射角 0 Ψ 衍射晶面法线与物体表面法线之间的夹角 σ 、σ 主应力 1 2 σ 需测定的应力 ϕ 为避开（2）式中未知项（σ 2 +σ ），对sin Ψ求偏导数得： 1 2 −E