材料分析的方法4 X射线衍射实验的方法.ppt

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材料现代分析方法 多晶分析方法 河北工业大学材料学院 孙继兵 E-mail: hbgdsIbe 126,col TEL:022 多晶体粉未法 粉未法是由德国的 Debye和 Scherrer于1916年提出的 粉未法可以分为照相法和衍射仪法 照相法中根据试样和底片的相对位置不同可以分为三种 (1)德拜一谢乐法( Debye- scherrer method),底片位于 相机圆筒内表面,试样位于中心轴上。是晶体衍射分析中最 基本的方法 (2)聚焦照相法( focusing methed),底片、试样、X射线 源均位于圆周上; (3)针孔法( pinhole method),底片为平板形与射线束 垂直放置,试样放在二者之间适当位置。 所有的衍射法其衍射束均在反射圆锥面上,圆锥的轴为入射 束。 材料学院 教师:孙继兵 2 多晶体粉末法 第一节粉末照相法 第二节Ⅹ射线行射仪 才料学院 教师:孙继兵 第一节粉末照相法 德拜法及德拜相机 二、试样的要求 三、德拜照相法试样制备 四、底片的安装 五、摄照规程的选择 六、衍射花样的测量和让篁 七、相机的分辨本领 材料学院 教师:孙继兵 德拜法及德拜相机 1一相机盖2试栉3一试样杆4一机身5一识整螺丝 6—偏心轮々一梄轮 机座9—滤片10·—光阐 1一光管12一荧光屏13—铅玻嘻14-底片

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