Q_320501SKWL001-2015半导体集成电路以太网交换芯片GreatBelt.pdf

L56 Q/SKWL 盛科网络（苏州）有限公司企业标准 Q/320501SKWL001-2015 半导体集成电路 以太网交换芯片GreatBelt 2015-01-25 发布 2015-0 1-25 实施 盛科网络（苏州）有限公司发布 Q/320501SKWL001-2015 前 言 本规范规定了半导体集成电路GreatBelt （CTC5160 ）鉴定和质量评定的全部内容。 本规范符合 GB4589.1-2006 《半导体器件分立器件和集成电路总规范》及GB/T12750-91 《半导 体集成电路分规范（不包括混合电路）》的要求。本规范的要求与通用规范不一致时，应以本规范为 准。 ――本标准由盛科网络（苏州）有限公司提出； ――本标准由盛科网络（苏州）有限公司批准； ――本标准主要起草人：许俊、周德金、朱坚、栾冬梅、赵莹。 Q/320501SKWL001-2015 半导体集成电路以太网交换芯片 GreatBelt 1、范围 本规范规定了半导体集成电路GreatBelt （CTC5160 ）的详细要求。 2 、规范性引用文件 下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款，凡是注日期的引用文件，其随后所有 修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本规范，然而，鼓励根据本规范达成协议的各方研 究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范。 GB4589.1-2006 半导体器件 分立器件和集成电路总规范 GB/T12750-91 半导体集成电路电路分规范（不包括混合电路） GB4590 半导体集成电路机械和气候试验方法 GB/3431.2 半导体集成电路文字符号引出端功能符号 GB/T7092 半导体集成电路外形尺寸 GB 4069 电子陶瓷零件公差 GB/T2828.1-2012 计数抽样检验程序 SJ/T10734.1 半导体集成电路文字符号电参数文字符号 SJ/T10741 半导体集成电路ASIC 电路测试方法的基本原理 JEDEC A 101-B 半导体器件标准 JEDEC J-STD-020 非密封型固态表面贴装组件的湿度回流焊敏感性标准 JESD22-A104 Temperature Cycling 温度循环实验方法 JESD22-A119 JEDEC 低温存储实验方法 JESD22-A103 高温储存寿命试验方法 JESD22-A110 高加速寿命试验方法 MIL-STD-810F 国防部实验方法标准环境工程考虑和实验室实验 1、术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 1.1 、术语 ACL 访问控制列表 ANSI 美国国家标准研究所 ARP 地址解析协议 FCS 帧校验序列 FIB 转发信息表 GE 千兆以太网 ICMP 互联网消息协议 IGMP 互联网组消息协议 IP 互联网协议 IPv4 互联网协议——第4 版 LAN 局域网