集成电路芯片测试仪.docVIP

集成电路芯片测试仪 设计报告 林明杰 信息sy0701 0120709320517 摘要 随着电子技术的迅速发展，数字集成电路的应用越来越广泛，二74系列逻辑芯片在数字电路中又有着非常广泛的应用，数字电路设计中要保证设计电路的准确性，必须要求所用的芯片逻辑功能完整，但若对所用芯片进行逐一测试，未免有些繁琐，另外，在数字电路的维修中经常要对芯片的型号和好坏进行判断，针对上述需要，我们针对常用的74系列逻辑芯片设计了74系列逻辑芯片测试仪，用来检测常用74系列芯片的型号和逻辑功能的好坏，从而使数字电路的设计，制作与维修过程得到简化，达到事半功倍的效果。 关键字 74逻辑芯片 ? ?单片机 ? ? 芯片测试 1设计方案与论证 1.1显示模块 显示模块主要实现对芯片检测结果的显示，包括芯片型号及芯片功能是否完好，同时也要给用户提供必要的提示信息，提高系统界面的友好性。 1.1.1 方案一：采用数码管显示 由于所有芯片均为74系列，因而只显示最后两位编号即可实现对芯片型号的显示，但由于数码管显示效果较差并且动态扫描时会占用很多CPU时间，因而舍弃该方案。 1.1.2方案二：采用点阵显示 采用有二极管构成的16×16点阵，通过主控单元的控制可以实现汉字及英文字符的显示，可以显示芯