求解半导体最终测试调度问题紧致分布估计算法王圣尧王凌清华大学.ppt

③大学 求解半导体最终测试调度问题的 紧致分布估计算法 HUAU王圣尧,王凌 清华大学自动化系  目录 口研究背景 口问题描述 口分布估计算法(EDA 口求解 SFTSP的紧致EDA 口仿真测试和比较 口总结展望 (  研究背景 口半导体生产流程 口最 进行测试 足會太 (  研究背景 口半导体最终测试调度问题( SFTSP) 测试设备昂贵,数量有限 需要进行有效的调度以提高生产效率 NP难问题 口 SFTSP具有学术价值和应用价值 (  问题描述 口工件数:n;机器数:m ■工件集合:J={J2…J} 机器集合:M={M1、M2…,Mm} 工件小包括n个操作{O1O2…Om}(如功 能测试、预烧、扫描、烘烤、卷带包装、加 载等等) 由于不同产品的性能参数不同、不同工件的测 试步骤和工序数量也不相同 (  问题描述 Testers Handlers △△△○⊙◇ Resources △△△⊙⊙⊙◇◇令 △△△儿Q⊙⊙八◇◇佥 一地M△心 Job Ja Machine m, △⊙◇ M.△○◇  数学模型 cTax ∑Fm=bm,v∈Jo∈O,m∈M Y∈J.o∈o,.m∈M lg cRn eAPm/ bm=1,v∈J.a∈O ep+I Comr≤bom,vj∈J∈O;,m∈M(6 aam,Vj∈J,o∈o m≤,Wt∈T,n∈1,2,…N1,r∈R ≥0.vj∈J Cmus2cNy,Yj∈J ∈T1j∈J.a∈O am=aml,vj∈Je∈0,m∈ML ,“,yN alem∈1.l,vj∈Ja∈0;,m∈M,(P,l)∈Vm(2 ar=Bmr,Y∈J.o∈0.m∈M amn∈|o,u,weJj∈J,a∈o,m∈M ∑。m=bm,v∈∈O,m∈M 0≤amr,Pam≤l,v∈T,j∈Jo∈0m∈Mn(24)  分布估计算法 x入8二Xsep:概率模型初始化 34.12 Step2:采样概率模型产生新种群 Step3:选择精英个体更新概率 Steps:选择精英个体 模型参数 28;-:Sp采样产生新种群  求解 SFTSP的cEDA 口编码方式 口解码方式 口概率模型及更新机制 a算法流程 UA UN (  编码方式 SFTSP ˇ操作排序问题机器分配问题 Operation sequence vector. Machine assignment vector 2|313 1133 Job j Job J2 Job J3 a操作序列向量:每一位工件号表示该工件的一个操 第k次出现的某个工件号表示该工件的第k个操 作 口机器分配向量:每一位机器号表示相应操作对应的 测试机器 (