完整版TEM高分分辨透射电镜讲稿.pptVIP

透射电镜的成像及应用(TEM) 前 进行电子显微分析时要把具有一定能量的电子汇聚成细小的电子束,与样 品物质相互作用,激发出可以表征材料微区特征的各种信息,检测并处理 这些信息。 κ电子显微镜是利用电子与物质作用所产生的讯号来鉴定微区的晶体结构 ( crystal structure)、微观组织( microstructure)、化学成份 ( chemical composition)、化学键( chemical bonding)和电子分布情 况( electronic structure)的电子光学装置。 主要内容 牙EM发展概述 EM的结构和成像原理 EM的样品制备 响TEM分辨率的因素 才EM的应用 TEM发展概述 1926年德国科学家 Garbor和 Busch发现用 铁壳封闭的铜线圈对电子流能折射聚焦, 既可作为电子束的透镜。 1932年德国科学家 Ruska和Kno在前面两 个发现的基础上研制出第一台TEM。 我国电镜研制起步较迟,1958年 在长舂中国科学院光学精密机械研 究所生产了第一台中型电镜 到1977年生产的TEM分辨率为 0.3nm,放大倍率为80万倍。 instrument cn 具体发展历程: κJ.J. Thomson作阴极射线管实验时观察到电场及磁场可偏折电子 κ1926年 Busch发现可用电磁场聚焦电子,产生放大作用。电磁场对 电子之