SPC统计过程控制详述 .pptxVIP

本资料来源;统计过程控制 (SPC);一、波动及其原因; 1. 正常波动： 过程处于统计控制状态，也称为受控状态。 特点: 过程中存在许多波动源，每个波动源对质量特性X的影响都是很微小的，通常X服从正态分布，且其分布不随时间的变化而改变。; 2. 异常波动： 过程不处于统计控制状态，也称为失控状态。 特点：过程中存在许多波动源，但有一个或几个对质量特性的影响较大，而其它的影响均很小，由于这些强的波动源的出现， 就使X的分布会随时间的变化而发生改变，有时是改变了分布的位置，有时是改变了分布的标准差，有时又会使分布的形状发生变化。;减小波动的对策; 2. 如果过程处于统计控制状态 通常一个产品的特性值总有一个目标值和一定的公差范围，过程不一定满足要求。 如果波动在公差范围内这是允许的，这时不需要去减小波动； 如果波动超过公差允许的范围，那么就要设法减小波动。这时往往不是靠简单的技术手段所能解决的，有时需要对整个生产系统作改造。;二、控制图概述; 2. 常规控制图的种类 （1）计量值控制图 均值-标准差控制图( -s 图) 均值-极差控制图( -R 图) 中位数-极差控制图( -R 图，也有 用Me-R图表示) 单值-移动极差控制图(x-Rs 图);（2）计数值控制图 不合格品率控制图(p 图) 不合格品数控制图(pn 图) 单位缺陷数控制图(u 图) 缺陷数控制图(c 图) ; 3. 控制图的原理 控制图是根据正态分布的3σ原理构造的。假如一个统计量T(x1,x2,…,xn)服从正态分布或近似正态分布，即 ;控制上限（记为UCL）为 μT +3σT 控制下限（记为LCL）为 μT -3σT 控制中心线（记为CL）为 μT ; 4. 构 造 将这三条水平线画在一张坐标纸上,其横轴为时间或样本序号，纵轴为 T 的观察值这就形成了一张控制图。 当把 T 的观察值按序点在图上，就可用于过程控制。这些上、下控制界限就被用来判断生产过程有无异常。 UCL与LCL称为行动限，当点超出上 下控制界限时表示过程失控，需要采取措施。;CL;有时还把控制界限内分成几个区域： μT +2 σT 与μT +3 σT之间称为A上区 μT +σT 与μT +2 σT之间称为B上区 μT -σT 与μT + σT之间称为C区 μT -2 σT 与μT -σT之间称为B下区 μT -3 σT 与μT -2σT之间称为A下区 ;; 控制图实际上是生产过程质量的一种记录图形，它提供了判断过 程是否处于统计控制状态的一种方法。 利用控制图进行控制时可能发生错误： 过程实际上没有失控而虚报失控，不过这类错误发生的概率仅为0.27%。; 5. 建立控制图前期的准备工作 （1）选择质量特性 （2）分析生产过程，确定控制点 （3）合理子组(样本)的选择：一般以时间划分 要求：组内变异应由随机原因引起 组间差异可能有异常原因 为使组内差异仅由随机原因，通常是每隔一定时间抽取连续生产的n个产品测定其特性值。 （4）适当选取时间间隔 （5）适当选择样本大小 （6）预备数据一般应有20到25组;三、计量控制图;计量值控制图基于正态分布，正态分布有两个参数： 均值与标准差 因此需要两张图，分别控制均值与标准差。;（一）均值-极差控制图（ -R图） 均值控制图主要用于判断生产过程的均值是否处于或保持在所要求的统计控制状态。 极差控制图主要用于判断生产过程的标准差是否处于或保持在所要求的统计控制状态。 两张图一起用，称为均值-极差控制图。; 1. 控制界限： 为制订控制界限，首先要收集k个子组数据（即k个样本），每一组的大小（即样本容量）为 n，第 i 组的数据记为xij，并对每一样本计算样本均值与样本极差。 对i=1,2, …,k有： ，Ri ，再计算它们的平均值：;由于;控制线如下： CL UCL LCL ;有关数值表 p129;P135 例1 某种金属零件的长度是一个重要的质量特性，在生产现场，每隔一小时测量五个产品的长度，下表给出的是与一个特定长度之差，试作均值-极差控制图。