NaITl单晶γ能谱的测量.docxVIP

NaI（Tl ）单晶γ能谱的测量 一、 实验目的 1、 加深对 γ 射线和物质相互作用的理解； 2、 掌握 NaI(Tl) γ谱仪的原理及使用方法； 3、 学会测量分析γ能谱； 4、 学会测定γ谱仪的能量分辨率、线性、探测效率曲线； 5、 测定未知放射源的能量和活度。 二、 实验原理 1、 γ 谱仪的组成 图 1 γ谱仪的组成框图 NaI(Tl) 闪烁谱仪由 NaI(Tl) 闪烁探头（包括闪烁体、光电倍增管、前置放大器）、高压 电源以及谱仪放大器、多道分析器、计算机等设备组成。图 1 为 NaI(Tl) 闪烁谱仪装置的示意 图。此种谱仪既能对辐射强度进行测量又可作辐射能量的分析，同时具有对射线探测效率高 （比 G-M 计数器高几十倍）和分辨时间短的优点，是目前广泛使用的一种辐射探测装置。 2、 射线与闪烁体的相互作用 由能带理论，卤化碱晶体能带由价带、禁带和导带组成。能量最低的为价带，通常为晶 体格子所束缚住的电子；中间的一层叫做禁带。就本征晶体而言，禁带中不存在电子。但若 在价带中的电子获得了足够的能量，则可跃迁至导带，并在价带中产生一个空穴。在导带中 的电子及在价带中的空穴均可以自由运动。同时导带中的电子可能会跃迁回到价带与空穴复 合而发出光子。但是在本征晶体中，电子与空穴复合放出光子的机率是非常小的。何况，因 为价带与导带之间的能隙的限制，在上述情况下发出的光子通常能量较