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CMOS芯片抗闩锁电路设计-电路设计论文-设计论文 ——文章均为WORD文档，下载后可直接编辑使用亦可打印——  摘要:阐述了CMOS芯片内部产生“闩锁”效应的机理及其危害;提出了一种CMOS芯片外围保护电路的设计方法，目的在于尽量避免CMOS芯片发生“闩锁效应”而被烧坏。对电路的拓扑形式及各部分的功能进行了详细的描述，CMOS外围保护电路进行设计完善后，CMOS芯片使用情况良好，未再发生过类似故障。 关键词:CMOS芯片;抗闩锁;外围保护电路;拓扑 1CMOS芯片“闩锁” 因及危害 CMOS芯片内部存在固有的寄生双极型PNP晶体管和NPN