GB/T 5095.2503-2021电子设备用机电元件　基本试验规程及测量方法　第25-3部分：试验25c：上升时间衰减.pdf

ICS31.220.10 L23 中华人 民共和 国国家标准 / — / : GBT5095.2503 2021IEC60512-25-32001 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 : : 第25-3部分 试验25c上升时间衰减 — Electromechanicalcom onentsforelectroniceuiment p q p — Basictestin roceduresandmeasurin methods gp g : : Part25-3 Test25c Risetimederadation g ( : , — IEC60512-25-3 2001 Connectorsforelectroniceuiment q p — : : , ) Testsandmeasurements Part25-3 Test25c Risetimederadation IDT g 2021-03-09发布 2021-10-01实施 国家市场监督管理总局 发 布 国家标准化管理委员会 / — / : GBT5095.2503 2021IEC60512-25-32001 目 次 前言 ………………………………………………………………………………………………………… Ⅲ 1 总则 ……………………………………………………………………………………………………… 1 1.1 范围和目的 ………………………………………………………………………………………… 1 1.2 术语和定义 ………………………………………………………………………………………… 1 2 试验设施 ………………………………………………………………………………………………… 1 2.1 设备 ………………………………………………………………………………………………… 1 2.2 装置 ………………………………………………………………………………………………… 2 3 试验样品 …………