基于单片机的TTL集成电路芯片测试仪的设计.pdfVIP

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  • 2021-06-16 发布于河北
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基于单片机的TTL集成电路芯片测试仪的设计.pdf

摘 要 集成电路( IC )测试是伴随着电子技术的发展而来的,数字集成芯片在使用 过 程中容易被损坏,用肉眼不易观察。早期的人工测试方法对一些集成度高, 逻辑复 杂的数字集成电路显得难于入手,因而逐渐被自动测试所取代,因此很需要 设计一 种能够方便测试常用芯片好坏的仪器。 本系统以单片机

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