TD-LTE基站射频测试步骤详解.docxVIP

实用标准文案 TD-LTE 基站射频测试操作说明 第一部分 TX测试 一、TX测试连接图 RRH 衰减器 频谱分析仪 BBU Trigger Reference Note: 衰减为输出功率 2.5 倍以上，此处选择 30dB。 10MH 参考线时钟线 reference 接BBU 针孔 ，10毫秒trigger 接B板最右边网口。 二、仪表等附件内容 频谱分析仪(Agilent MXASignal Analyzer N9020A,10Hz~13.6GHz), 30dB衰减，SystemDCPower7Supply (AgilentN5747A/60V/12.5A/750W) ，VGA信号源。 LTE NEM， Secure CRT 。 三、NEM操作系统配置 文档 四、频谱仪选键设置 Step1. 选择LTE模式，Press Mode, LTE TDD. Step2. 频点设置 FREQ Channel Step3. 频点补偿设置 Input/Output , External Gain, BTS Step4. 下行模式设置 Mode Setup, Radio, Direction to be Downlink. Step5. 链路配置设 Mode Setup , Radio, ULDLAlloc,Config3 ；DW/GP/UpLen, More,Config8 . Step