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2021-07-16 发布于上海
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IC集成电路检验标准.pdf

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IC （集成电路）检验标准文件编号 BC-QM-015 生效日期批准审核拟制版本 / 修订制订部门品质部号 1.0 目的: 为使 IC （集成电路）来料符合本厂之产品要求，特制定检验和判定标准。 2.0 范围: 适用本公司所有 IC （集成电路）检验 . 3.0 检验环境 : 在正常光源下，距 30CM远，以 45 °视角观看产品。 1.0 检验标准 : GB/ 正常检验一次抽样方案，一般检验水平Ⅱ级，特殊检验水平 S-3 之 AQL值 CR=0，MA=， MI=进行抽样检查。检验方判定标准检验检验内容法及工项目 CR MA MI 具 1、表面字符丝印清晰、完整，易于识别，丝印无模糊、错误 √ 丝印、漏丝印、重影不良。 2、无变形、严重划伤、缺料，无表面污渍现象。目视、 √ 外观放大镜 3、元件脚无连脚丶脱落、氧化现象。 √ 4、元件脚在同一平面，无变形、偏位。 √ 1、按照承认书标注尺寸要求，进行尺寸检查。承认 √ 结构书、试 2、封装样式符合承认书及样板。装 √ 1、根据来料单据及承认书核对来料包装方式、数量，确认来 √ 料标示清楚、完整。来料单据、承包装 2、不可有短装、混料、包装脏污等不良现象。认书、 √ 目视 3、针对散装物料要求包装完好 , 防静电，真空包装需完好，无 √ 破损、漏气不良。可焊在炉温 250 ±5 ℃状态下将稳压二极管引脚浸入锡炉 2 ±观察引锡炉 √ 性脚上锡率＞ 95%。备注： 1．拿取时需戴手套； 2．可焊性按每批次 10PCS抽取。