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仪器名称：AFM-TERS系统 数量：1套，进口 用途：AFM-TERS系统由原子力显微镜、显微共焦光学系统、以及拉曼光谱仪构成。该系统结合了AFM和拉曼光谱仪在表面性质分析方面的优势特点，不仅可以对样品表面进行高分辨表征，而且同时可以获得原位的拉曼/荧光光谱。实现在纳米尺度上拉曼散射光谱及吸收光谱成像，具有纳米尺度上形貌、电学、磁学等表征能力。 技术指标（标注有*的部分为重要技术条款，不能有负偏离）： AFM原子力显微镜系统： *全自动、高精度、宽扫描范围的三轴压电闭环扫描器； *扫描器XYZ轴扫描范围 ≥ 80×80×10μm； *扫描器噪声水平：XY轴 ≤ 0.2nm，Z轴 ≤ 0.1nm； *配有STM扫描隧道显微镜模块； 低相干性红外激光反馈，独立反馈光路，避免联用时的相互干扰； AFM针尖闭环扫描，范围 ≥ 30×30×6μm，噪音XY轴 ≤ 0.1nm，Z轴 ≤ 0.05nm； 原子级分辨（云母或石墨表面），热漂移 ≤ 15nm/h； 测量模式包含：接触模式、轻敲模式、相位成像模式、摩擦力模式、横向力、压电响应力、力曲线与高级力谱等模式； 定量成像测量控制模块（同时获得表面形貌和杨氏模量），满足各种气氛和溶液环境下的测定和成像； 纳米刻蚀和纳米操纵控制模块； 快扫模块（ 150Hz，范围 1μm×1μm）; AFM导电模块（带封闭气体池），量程 100nA，噪