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材料科学：材料分析测试技术考试题 1、问答题?总结简单点阵、体心点阵和面心点阵衍射线的系统消光规律。 解析：简单点阵不存在系统消光，体心点阵衍射线的系统消光规律是（h+k+l）偶数时出现反射，（h+k+l）奇数时消光。面心点阵衍射线的系统消光规律是h，k，l全奇或全偶出现反射，h，k，l有奇有偶时消光。答：简单点阵不存在系统消光，体心点阵衍射线的系统消光规律是（h+k+l）偶数时出现反射，（h+k+l）奇数时消光。面心点阵衍射线的系统消光规律是h，k，l全奇或全偶出现反射，h，k，l有奇有偶时消光。 2、问答题?叙述用X射线仪检测的误差来源。 解析：用X射线仪检测时，误差是不可避免的，但是应使误差对结果的影响最小化。若要获得精确的点阵常数，首先是获得精确的X射线衍射线条的θ角。不同的衍射方法，θ角的误差来源不同。消除误差的方法也不同。 误差可以分为系统误差和偶然误差。系统误差是由试验条件所决定的，随某一函数有规则的变化。偶然误差是由于测量者的主观判断错误以及测量仪表的偶然波动或干扰引起的，没有固定的变化规律。德拜照相法的系统误差的主要来源有：（1）相机半径误差；（2）底片收缩（或伸长）误差；（3）试样偏心误差；（4）试样对X射线的吸收误差；（5）X射线折射误差。 用衍射议法精确测定点阵常数，衍射角的θ角系统误差来源有：未能精确调整仪器；计数器转动与试样转动比；（2：1）驱动失调；θ角00位置误差；试样放置误差；试样放置误差，试样表面与衍射仪轴不重合；平板试样误差，因为平面不能代替聚焦圆曲面；；透射误差；入射X射线线轴向发散度误差；仪器刻度误差等。 用衍射议法时，影响实验精度和准确度的一个重要问题是合理地选择实验参数。其中对实验结果影响较大的狭缝光阑、时间常数和扫描速度等。 3、名词解释?电子透镜 解析：能使电子束聚焦的装置。 4、单选?可以消除的像差是（）。 A.球差； B.像散； C.色差； D.A+B。 本题答案：B 5、问答题?影响电磁透镜景深和焦长的主要因素是什么？景深和焦长对透射电子显微镜的成像和设计有何影响？ 解析：（1）把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深，影响它的因素有电磁透镜分辨率、孔径半角，电磁透镜孔径半角越小，景深越大，如果允许较差的像分辨率（取决于样品），那么透镜的景深就更大了；把透镜像平面允许的轴向偏差定义为透镜的焦长，影响它的因素有分辨率、像点所张的孔径半角、透镜放大倍数，当电磁透镜放大倍数和分辨率一定时，透镜焦长随孔径半角的减小而增大。 （2）透射电子显微镜的成像系统由物镜、中间镜和投影镜组成。物镜的作用是形成样品的第一次放大镜，电子显微镜的分辨率是由一次像来决定的，物镜是一个强励磁短焦距的透镜，它的放大倍数较高。中间镜是一个弱透镜，其焦距很长，放大倍数可通过调节励磁电流来改变，在电镜操作过程中，主要是利用中间镜的可变倍率来控制电镜的放大倍数。投影镜的作用是把中间镜放大（或缩小）的像进一步放大，并投影到荧光屏上，它和物镜一样，是一个短焦距的强磁电镜。而磁透镜的焦距可以通过线圈中所通过的电流大小来改变，因此它的焦距可任意调节。用磁透镜成像时，可以在保持物距不变的情况下，改变焦距和像距来满足成像条件，也可以保持像距不变，改变焦距和物距来满足成像条件。 在用电子显微镜进行图象分析时，物镜和样品之间的距离总是固定不变的，因此改变物镜放大倍数进行成像时，主要是改变物镜的焦距和像距来满足条件；中间镜像平面和投影镜物平面之间距离可近似地认为固定不变，因此若要荧光屏上得到一张清晰的放大像必须使中间镜的物平面正好和物镜的像平面重合，即通过改变中间镜的励磁电流，使其焦距变化，与此同时，中间镜的物距也随之变化。 大的景深和焦长不仅使透射电镜成像方便，而且电镜设计荧光屏和相机位置非常方便。 6、名词解释?偏离矢量s 解析：倒易杆中心至与爱瓦尔德球面交截点的距离可用矢量s表示，s就是偏离矢量。 7、名词解释?相机常数 解析：定义K=Lλ，称相机常数，其中L为镜筒长度，λ为电子波长。1、明场像：让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法，叫明场成像，所得到的像叫明场像。 8、问答题?特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同？某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长？ 解析：特征X射线与荧光X射线都是由激发态原子中的高能级电子向低能级跃迁时，多余能量以X射线的形式放出而形成的。不同的是：高能电子轰击使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是特征X射线；以X射线轰击，使原子处于激发态，高能级电子回迁释放的是荧光X射线。某物质的K系特征X射线与其K系荧光X射线具有相同波长。 9、单选?透射电子显微镜中可以消除的像差是（）。 A.球差； B.像散； C.色差。 本题答案：B 10、名词解释?背散射电子