x射线多晶衍射测试原理及样品制备要求.pptVIP

x射线衍射方法应用范围 检测对象和内容：物相定性定量分析，材料合成中的物相确定，药物制备中的晶型测定等；材料结构测定，晶胞参数测定；纳米材料晶粒大小测定；半导体薄膜及多孔材料（粉末、平整的固体平面）的小角衍射(2θ在0.6°-6°)。 主要应用领域：多孔材料、半导体材料、矿物、文物、电池填充材料、药物等结晶物质均可用多晶衍射（XRD）作材料性能及材料结构表征工作。 第一页 x射线多晶研究方法 x射线多晶衍射原理 一束波长λ的平行x射线照射到晶面间距为d的一组晶面上，当入射角θ满足布拉格方程时，即可发生衍射。 单晶体在衍射方向上可得到一个个分立的衍射点。 多晶体的衍射花样是所有单晶颗粒衍射的总和。 第二页 粉晶法衍射原理 实验中晶体均匀旋转，促使更多的晶面有机会处于上述位置。由于θ相同，结果形成“空间圆锥体”。 圆锥体顶角为4θ，母线为衍射线方向。 一个“衍射锥”代表晶体中一组特定的晶面。 第三页 第四页 核心部件 1.高压发生器和x光管 2.测角仪 3.探测器 4.控制和分析软件 第五页 第六页 第七页 x射线衍射图 2θ On the interface In the paste 第八页 第九页 1、要了解样品的物理化学性质，如是否易燃，易潮解，易腐蚀、有毒、易挥发。 2、金属样品如块状、板状、圆拄状要求磨出一个平面，面积不小于10×