相控阵检测原理.docx

超声相控阵检测原理 超声相控阵检测技术是通过电子系统控制换能器阵列的各个阵元，按照一定的延迟时间规则发射和接收超声波，从而动态控制超声波束在工件中的偏转和聚焦来实现材料的无损检测方法。相控阵科研模拟成百甚至上千种斜聚焦探头的工作，并且科研电子扫描和动态聚焦，无需探头机械运动，检测速度快，探头放在一个位置就可生成被检查物体的完整图像，实现了自动检查，切可检测复杂形状的物体，克服了常规超声检测方法的许多局限。 相控阵偏转 通过控制探头晶片的延时科研改变波束的偏转角度。波束偏转控制的特点有：1、使用单一探头可以进行多角度检测；2、使用1维阵列时，仅能在一个平面上进行波束控制；3、可以使用不对称的聚焦法则。如下图所示的是晶片的不同延时而产生的不同偏转角度。 相控阵的波束的偏转与每一个晶片的宽度和阵元数都有关系，采用带角度的楔块时，相控阵偏转的角度范围可以改变。 相控阵聚焦 通过探头晶片的延时控制，探头将波束能量聚焦在工件的某一点，从而更加清晰的反映那点处的结构信息。波束聚焦的特点有：1、通过改变晶片的延时法则，波束能聚焦在工件的不同深度；2、使用1维阵列时，波束只能在一个平面上控制；3、波束聚焦需要采用对称的延时法则；4、在近场区，波束不能聚焦。如下图所示是晶片采用不同的延时产生不同的聚焦深度。 聚焦形式 相控阵的聚焦形式主要包括：扇形聚焦、线性聚焦、深度聚焦、静态聚焦、动态深度聚焦和线性环形聚焦，如图所示是几种常用的聚焦方式。 几种常用的相控阵聚焦方式 若要产生波束的各种聚焦方式，需要设置探头的偏转角度和楔块的偏移，才能使波束打在工件上需要检测的部位。 线性扫查 线性草茶是在不同的时间激发不同组的晶片，从而形成电子扫查。线性扫查又称电子扫查、E扫查。由高频电脉冲多路传输，按相同的聚焦律和延时律触发一组晶片，声束则以恒定角度沿相控阵探头长度方向进行扫描。当使用斜楔块时，对楔块内不同延时值要用聚焦律作修正。 扇形扫查 扇形扫查通过探头的波束偏转来控制。各个晶片激发的时间不同，从而产生不同角度的波束偏转。扇形扫查又称S扫查。使阵列中相同晶片发射的声束，对某一聚焦深度在扫描范围内移动，而对其它不同的聚焦深度，可增加扫查范围，扇形扫查区的大小也可变。