传动运动控制 电阻器电阻器失效分析案例.pdf

片式厚膜电阻器—电极断裂开路 1) 样品名称：片式厚膜电阻器 2) 背景：型号为5.6K Ω/1206 和47K Ω/1206，在使用一年后发现失效。 3) 失效模式：阻值超差和开路。 4) 失效机理：面电极的银层断裂是样品开路和阻值增大的原因。 5) 分析结论：电极的银层断裂是由于焊接时，在Pb-Sn 焊料边缘的面电极Ag 大量熔于焊 料中，形成边缘的Ag 层空洞，在长期工作过程Ag 的迁移和腐蚀造成空洞的扩大甚至断 开而导致电子开路。 6) 分析说明： 失效品外观显示，端电极焊接不良（图1）