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晶体硅太阳电池漏电检测与修复 摘要：通过红外热成像无损检测技术拍摄晶体硅太阳电 池表面的热分布图，来确定电池漏电的位置。结合金相显微 镜、扫描电子显微镜等分析仪器发现一种新的漏电类型，由 多晶硅太阳电池表面附着密集的腐蚀坑所引起的漏电，该漏 电成因异于电池片表面的刮伤。采用波长为 1064 和 532nm 的激光器作为修复漏电电池片的工具，从隔离槽的绝缘性和 切断电池片的 PN 结所需要的槽深作为研究内容，实验了三 种不同的修复方案，通过测试并对比修复前后电池片的电性 能参数来探索激光器修复漏电所需要的工艺。实验结果表明： 当激光束第二次经过槽内时，可以使槽内残留的硅和金属颗 粒完全气化，增加