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塞曼效应实验 塞曼效应实验 PAGE 塞曼效应实验 中国石油大学 近代物理实验 实验报告 成 绩： 班级 姓名： 同组者： 教师： 塞曼效应实验 【实验目的】 1、观测塞曼效应，把实验结果与理论结果进行比较。 2、学习测量塞曼效应的实验方法。 3、测量在磁场中谱线裂距并计算荷质比。 【实验原理】 1、谱线在磁场中的塞曼分裂 原子中电子的轨道磁矩和自旋磁矩合成原子的总磁矩。总磁矩在磁场中将受到力矩的作用而绕磁场方向旋进。旋进所引起的附加能量为 （3-3-1） （3-3-2） 其中L为总轨道角动量量子数，S为总自旋角动量量子数，J为总角动量量子数。对于LS耦合，当J一定时，磁量子数M只能取J，J-1，J-2，…，-J，共（2J+1）个值。所以，无磁场时的一个能级，在外磁场的作用下将分裂成（2J+1）个等间隔的子能级，能级间距为。 无外磁场时，能级E1和E2之间的跃迁产生频率为ν的光，即。而在磁场中，能级E1和E2都发生分裂，一条光谱线将变为几条光谱线。如果是分裂为三条，称为正常塞曼效应，多于三条的称为反常塞曼效应。新谱线的频率ν′与能级的关系为 (3-3-3) 分裂后谱线与原谱线的频率差为 （3-3-4） 代入波尔磁子得到 （3-3-5） 若用波数表示，则 （3-3-6） 引入洛伦兹单位，则（3-3-7） 2、观测塞曼分裂的方法 塞曼分裂的波长差很小，一般的摄谱仪器是无法分辨的，必须采用分辨率较高的干涉型谱仪，如迈克尔迅干涉仪、法布里一波罗（Fabry—Perot）标准具等。实验中，我们采用法布里—波罗标准具，其简称F—P标准具。 图3-3-2 F—P标准具结构与光路图 F—P标准具的光路如图3-3-2所示。自扩展光源S上任一点发出的单色光射到标准具板的平行平面上，经过M1和M2表面的多次反射和透射，分别形成一系列相互平行的反射光束1、2、3、4、…和透射光速l′、2′、3′、4′、 …，在透射的光束中，相邻两光束的光程差为，这一系列平行并有确定光程差的光束在无穷远处或透镜的焦平面上成干涉像。当光程差为波长的整数倍时产生干涉极大值。一般情况下F—P标准具反射膜间是空气介质，，因此干涉极大值为 (3-3-8) k为整数，称为干涉级。由于F—P标准具的间隔d是固定的，在波长λ不变的情况下，不同的干涉级对应不同的入射角θ，因此，使用扩展光源时，F—P标准具产生等倾干涉，干涉条纹是一组同心圆环。中心圆环级次最大，，级次越向外越小。 用F－P标准具测量塞曼分裂谱线波长差 应用F－P标准具测量各分裂谱线的波长或波长差，是通过测量干涉环的直径来实现的，如图3-3-2所示，用透镜把F－P标准具的于涉圆环成像在焦平面上，出射角为θ的圆环直径D与透镜焦距f间满足关系： 对于近中心的圆环，θ很小，，所以 代人（3-3-8）式得 （3-3-9） 由上式可推得，同一波长λ的相邻k和k-l级圆环直径的平方差为 （3-3-10） 可见⊿D2是与干涉级次无关的常数。 设波长λa和λb的第 k级干涉圆环的直径分别为 Da和Db，根据上两式得波长差为 （3-3-11） 用波数表示 （3-3-12） 由于F－P标准具间隔圈厚度d比波长λ大得多，中心处圆环的干涉级数k是很大的，因此用（k-2）或（k-3）等近中心圆环代替k或（k-1）引入的误差可忽略不计。 用F－P标准具观测塞曼分裂，计算荷质比 根据（3-3-7）式，对于正常塞曼效应分裂的波数差为 代人（3-3-12）式，得 （3-3-13） 对于反常塞曼效应，分裂后相邻谱线的波数差是洛伦兹单位L的某一倍数，注意到这一点，用同样的方法也可计算电子荷质比。 【实验装置】 1、光源 2、电磁铁 3、会聚透镜 4、偏振片 5、干涉滤光片 6、F—P标准具 7、CCD摄像机 8、计算机 【实验数据处理】 图1.π线图 图2