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实验一： Si 与 SiO2 晶体结构的 X 射线衍射方法测定
一、 实验目的
1） 加深理解并掌握金刚石结构的 XRD 消光规律
2 ） 基本掌握用 XRD 的 PDF （ICDD ）卡片及索引对多晶物质进行相分析
3） 了解 XRD 仪的基本结构与实验步骤
4 ） 学会检验单晶硅、多晶硅以及二氧化硅的 XRD 方法
二、 实验内容
1） 有实验老师介绍 XRD 仪器的基本结构与基本实验步骤
2 ） 进行 XRD 实验获得 Si 及 SiO 2 的 XRD 谱图
3） 先查 XRD 的索引得到卡片号、再由卡片号查找物相晶体结构参数
4 ） 由衍射知识获得金刚石结构的 XRD 消光规律
三、 实验仪器设备和材料清单
X 射线衍射仪、 Si 粉、 SiO2 粉等
四、 实验方案设计
对样本进行取样（预处理）
将取样品放进衍射仪进行检测
得到数据和衍射谱并处理分析
对照卡片查找晶体结构参数
五、 实验数据记录与处理
Si 卡片号 JCPDS，PDF27-1402
2 θ( 度 ) d I/I 1
hkl
CuKa λ=1.54060? (?) ( 峰高比 )
28.44 3.1355 100 111
47.3 1.9201 55 220
56.12 1.6375 30 311
69.13 1.3577 6 400
76.38 1.2459 11 331
88.03 1.1086 12 422
α-SiO 2 石英 卡片号 JCPDS ，PDF46-1045
2 θ( 度) CuKa λ=1.54060? d(?) I/I1( 峰高比 ) hkl
20.86 4.2550 16 100
26.64 3.3435 100 101
36.54 2.4569 9 110
39.46 2.2815 8 102
40.3 2.2361 4 111
42.45 2.1277 6 200
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