x射线荧光光谱分析基本原理.pdfVIP

X射线荧光光谱分析 X 射线是一种电磁辐射，其波长介于紫外线和 γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限， 一般来说是指波长为0.001-50nm 的电磁辐射。对分析化学家来说，最感兴趣的波段是 0.01-24nm，0.01nm 左右是超铀元素的 K 系谱线，24nm 则是最轻元素 Li 的K 系谱线。1923 年赫维西(Hevesy,G. Von)提出了应用 X 射线荧光光谱进行定量分析，但由于受到当时探测 技术水平的限制，该法并未得到实际应用，直到20世纪40年代后期，随着X 射线管、分光技 术和半导体探测器技术的改进，X 荧光分析才开始进入蓬勃发展的时期，成为一种极为重要 的分析手段。 1.1 X射线荧光光谱分析的基本原理 当能量高于原子内层电子结合能的高能X 射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现 一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12-10-14s，然后 自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非 辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内 部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射 效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当 较外层的电子跃入内层空穴所