声发射检测技术及应用.pptVIP

第1页，共23页，编辑于2022年，星期六 报告内容 无损检测简介 声发射检测的原理和特点 声发射检测的定位方法 声发射检测的应用 第2页，共23页，编辑于2022年，星期六 第一部分 无损检测 一、 什么是无损检测 无损检测是在不破坏或损伤原材料和工件受检对象的前提下，测定和评价物质内部或外表的物理和力学性能，并包括各类缺陷和其他技术参数的综合性应用技术 。 第3页，共23页，编辑于2022年，星期六 二、无损检测的应用形式 （一）在生产过程质量控制中的无损捡测，即应用于产品的质量管理。 （二）用于成品的质量控制，即用于出厂前的成品检验和用户的验收检验。 （三）在产品使用过程中的监测，即维护检验。 第4页，共23页，编辑于2022年，星期六 三、无损检测方法的种类 人们按照不同的原理，和不同的探测及信息处理方式，已经应用和正在研究的各种无损检测方法，总共达70多种。目前在工业生产检测中，应用最广泛的无损检测方法主要是液体渗透法，磁粉检测法，射线检测法，超声波检测法和涡流检测法。 第5页，共23页，编辑于2022年，星期六 第二部分 声发射检测原理 声发射技术在材料和结构的无损检测中占有很重要的地值，是在60年代发展起来的一种材料和构件评价的新方法，现已成为一种不可缺少的检测手段。 材料或结构件受外力或内力作用产生变形或断裂，以弹性波形式释放出应变能的现象称为声发射。 利用仪器检测、分析声发射信号并利用声发射信息推断声发射源的技术称为声发射技术。 第6页，共23页，编辑于2022年，星期六 声发射检测必须有外部条件的作用，使材料内部结构发生变化，即结构、焊接接头或材料的内部结构、缺陷处于运动变化的过程中，才能实施检测。 第7页，共23页，编辑于2022年，星期六 一、声发射的来源与产生 位错运动和塑性变形 实际金属晶体存在着各种各样的缺陷 ，当晶体内沿某一条线上的原子排列与完整晶格不同时就会形成缺陷。高速运动的位错产生高频率、低幅值的声发射信号，而低速运动的位错则产生低频率、高幅值的声发射信号。据估计，大约100个到1000个位错同时运动可产生仪器能检测到的连续信号；几百个到几千个位错同时运动时可产生突发型信号。 第8页，共23页，编辑于2022年，星期六 裂纹的形成和扩展 塑性材料裂纹的形成与扩展同材料的塑性变形有关，一旦裂纹形成，材料局部区域的应力集中得到卸载，产生声发射。材料的断裂过程大体上可分为三个阶段：①裂纹形成；②裂纹扩展；③最终断裂。这三个阶段都可以产生强烈的声发射。 脆性材料不产生明显的塑性变形，因此一般认为，位错塞积是脆性材料形成微裂纹的基本机理。 脆性材料由于不产生明显的塑性变形，其声发射频度低，每次的发射强度大；塑性材料与之形成对照，声发射频度高，每次发射强度小。 第9页，共23页，编辑于2022年，星期六 脆性材料和塑性材料的声发射信号比较 第10页，共23页，编辑于2022年，星期六 二、声发射信号的特征参数 声发射事件 右图是一个突发型信号的波形， 经过包络检波后，波形超过顶置的 阈值电压形成一个矩形脉冲。一个 突发型信号形成一个矩形脉冲叫做 一个事件，这些事件脉冲数就是事 件计数。单位时间的事件计数称为 事件计数率，其计数的累积则称为 事件总数。 第11页，共23页，编辑于2022年，星期六 右图是一个声发射信号的振 铃波形，设置某一阈值电压，振 铃波形超过这个阈值电压的部分 形成矩形窄脉冲，计算这些振铃 脉冲数就是振铃计数．单位时间 的振铃计数率则称为声发射率， 累加起来称为振铃总数。取一个 事件的振铃计数称为事件振铃计 数或振铃/事件。 第12页，共23页，编辑于2022年，星期六 仪器输出的声发射信号是一个随机信号，如下图所示． 一个事件的振铃计数为： 式中， —工作频率， —衰减系数 ， —峰值电压， —阈值电压 第13页，共23页，编辑于2022年，星期六 振幅及振幅分布 振幅分布又称幅度分布，振幅是指声发射波形的峰值振幅。振幅及振幅分布被认为是可以更多地反映声发射源信息的一种处理方法。它既可以是事件计数对振幅的分布，也可以是振铃计数对振幅的分布。 第14页，共23页，编辑于2022年，星期六 能量 声发射能量反映了声发射源以弹性波形式释放的能量。能量分析是针对仪器输出的信号进行的。瞬态信号的能量定义为 式中，