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- 2022-03-30 发布于天津
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* 1.3 红外(IR)探测器的性能参数 1.3.1 主要工作条件 (1) 辐射源的光谱分布 许多红外探测器对不同波长的辐射响应不同,因此,在描述探测器性能时,需说明入射辐射的光谱分布。 单色光源:给出波长; 黑体源:给出温度; 经过调制的入射辐射:给出调制频率分布。 (2)电路的频率范围 在描述器件性能时,需要给出探测器的工作频率和放大电路的通频带宽(噪声等效带宽)。 (3)工作温度 许多探测器的性能与它的工作温度有密切的关系,在给出探测器的性能参数时需给出探测器的工作温度。 较重要的几个工作温度:室温(295K或300K)、干冰温度(194.6K)、液氮沸点(77.3K)、液氦沸点(4.2K)。 (4)光敏面积和形状 探测器的性能与探测器面积的大小和形状有关。因此,给出探测器的性能参数时应给出它的面积。 (5)探测器的偏置条件 探测器的性能与偏置条件有关,所以在给出探测器的性能参数时应给出偏置条件。 (6)特殊工作条件 1.3.2 主要性能参数(性能指标) 性能指标可分为实际指标、参考指标。 实际指标:指对每个实际探测器直接测量出来的指标。 参考指标:对某类探测器折合到标准条件时的指标值。 (1)响应率(响应度)R 响应率R是探测器输出信号S与探测器的输入量X之比,即 响应率表征探测器对辐射响应的灵敏度,是探测器的一个重要的性能参数。 (a)根据输入量的不同,定义不同的响应率(通量响应率、辐照度响应率)。 (2)噪声等效功率NEP 当辐射在探测器上产生的信号电压V,恰好等于探测器自身的噪声电压VN(即信号噪声比为1)时,所需投射到探测器上的辐射功率P,即 (a)黑体噪声等效功率NEP(T,f ) ( NEP(T,f, △f ) )和光谱噪声等效功率NEP(λ,f ) (NEP(λ,f ,△f ) )。 (b)另一种表示式: (3)探测率D、D*、D** (a)探测率D 表示辐照在探测器上的单位辐射功率所获得的信噪比。探测率越大,表示探测器的探测能力越强。 (b)归一化探测率D* 有 由 从而 表示当探测器的敏感元具有单位面积、放大器的测量带宽为1Hz时,单位辐射功率所能获得的信号噪声比。它消除了探测器面积AD和噪声等效带宽△f 的影响,称为归一化探测率或比探测率 D*,单位为cm.Hz1/2/W (或Jones)。 * 黑体探测率(D*(T,f ))和光谱(单色)探测率(D*(λ,f)) 式中 是入射黑体辐射通量(W),E(T, λ)是黑体辐照度(W/cm2)。 (c)D** 式中Ω是探测器响应单元向挡板或冷屏所张的有效立体角。 对于Ω在半角为θ/2的锥形中为常数的特殊情况(如图), (4)光谱响应 功率相等的不同波长的辐射照在探测器上所产生的信号与辐射波长的关系叫做探测器的光谱响应(等能量光谱响应函数)。 (a)光谱响应率函数与总响应率函数 对具有给定的光谱响应率函数的探测器在总的输入(例如辐射通量功率P)和总的输出(例如光电压V)之间存在下列关系 则探测器总响应率(总输出与总输入之比)可写成 (b)相对光谱响应和绝对光谱响应 探测器的相对光谱响应函数r(λ)可表示为 总响应率的公式可改写为: 式中,R(λ)为绝对光谱响应率, R(λ0)为归一化波长上的绝对光谱响应率。在光谱响应测量中,一般都是测量相对光谱响应。 称 为“光谱匹配系数” ( ),并把它解释为发生在探测器光谱响应分布和入射通量光谱分布之间的相对覆盖程度。如图 : 式中p(λ)是光源的相对光谱分布。 (c)光子探测器和热探测器的光谱响应曲线 实际的截止波长λc:响应率下降到峰值波长的50%处所对应的波长。 *
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