质量和可靠性管理实务第6章 统计过程控制（SPC).ppt

①分析R控制图： 在R图上发现，第11个点超出控制限，查明因有对设备不熟悉的人员操作，排除该点后，重新计算控制限（还有24个子组）： 图：中心线 CL= =0.715 上控制限 UCL= ＋A2× = 0.715+0.58×0.169=0.813 下控制限 LCL= －A2× = 0.715－0.58×0.169=0.617 R图：中心线 CL= =0.169 上控制限 UCL=D4× =2.11×0.169=0.357 下控制限 LCL=D3× =0×0.169=0 （当LCL=0时无下控制限） ②绘制新的R图，如图6-18所示。 6.2 计量型数据的控制图及过程能力 图6-18 新R控制图 * 4）在 控制图上画出中心线、控制限线（虚线）、各组 值，如图6-19所示。 ①分析 控制图： 发现从第17点起异常，其后8个子组被排除（这一阶段在低的过程均值下受控，但连续6点在平均值一侧），原因是使用了不合规范的原材料。至此，只留下16个子组。 排除了与极差和均值有关的可解释和可纠正的问题，过程看来是统计受控的。 6.2 计量型数据的控制图及过程能力 图6-19 控制图 异常点:连续六点在中心线下方 * 重新计算控制限： =（0.70+0.77+…+0.76）/16=0.738 CL= =0.715 UCL= ＋A2× =0.738+0.58×0.169=0.836②按照新的控制限重新绘制新 控制图，如图6-20所示。 6.2 计量型数据的控制图及过程能力 图6-20 新 控制图 * ②按照新的控制限重新绘制新控制图，如图6-20所示。 LCL= －A2× = 0.738－0.58×0.169=0.640 5）计算过程能力指数并作评价。 在本例中: TU =0.90, TL =0.50 = 0.715， =（0.20+0.20+…+0.15）/16=0.175， = / D2= 0.175/2.33=0.075 （D2值可查表6-4得到） Cp== = 0.89 由于 = 0.715与规格值中心（M=TU－TL=0.90-0.50=0.70）不重合，所以需要计算Cpk 。 T = TU－TL= 0.90-0.50=0.4 K= = = 0.075 Cpk=（1-K）Cp=（1-0.075）×0.89 = 0.82 从本例中可以看出, Cpk = 0.82＜1，说明该工序的过程能力不足。因此，应根据对PCB质量要求，确定当前的统计过程状态是否满足设计、工艺和顾客的要求，决定是否以及何时对过程进行调整。如果需要调整，则在调整后重新收集数据，绘制 控制图。 6.2 计量型数据的控制图及过程能力 * 6.2.2 均值和标准差控制图（ 控制图） ◆样本的标准差是过程变异性更有效的指标，特别是n﹥10时效果更好，此时可采用控制图。 控制图以样本标准差S 作为 估计值，其控制图的制作、过程控制解释、过程能力解释等都与 控制图类似。 ◆控制图的应用步骤： 1.数据收集 一般情况下，子组数K=20～25,子组大小n＞10，效果较好，否则可选用 控制图。 2.绘制控制图 方法同 控制图（见本章之2），不同之处： （1）每个子组的标准差： 式中：Xi —— 子组的单值； —— 子组的均值； N —— 子组的样本大小。 6.2 计量型数据的控制图及过程能力 * （2）总的过程标准差： 式中：k —— 子组数 （3）控制限的计算 图：中心线 CL= 上控制限 UCL= ＋A3× 下控制限 LCL= －A3× S图：中心线 CL= 上控制限 UCL=B4× 下控制限 LCL=B3× （当LCL=0时无下控制限） 3.过程控制分析 方法同 控制图。（见本章之3） 4.过程能力分析 方法同 控制图（见本章之4），不同之处： 计算过程能力指数Cp ,Cpk。 以