晶体光学:正交偏光镜下晶体光学性质的观察与测定.pptxVIP

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  • 2022-04-24 发布于江西
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晶体光学:正交偏光镜下晶体光学性质的观察与测定.pptx

岩矿鉴定是地质工作的重要组成部分,是野外地质的延伸,晶体光学课程,系统地介绍晶体光学的基本概念和基本原理,让学生掌握使用偏光显微镜,在单偏光系统、正交偏光系统和锥光系统下观察和鉴定透明矿物的各种光学性质,为后续岩浆岩岩石学、变质岩岩石学、沉积岩岩石学等专业课程的学习打下基础。

第六节、正交偏光镜下主要光学性质的观察与测定方法 ;一、光率体椭圆半径方向及名称的测定 测定方法如下: ??? ①将欲测矿片置视域中心,转动载物台使矿片消光; ??? ②再转动载物台45。矿片干涉最亮; ??? ③从试板孔(45。位置)插入试板,观察干涉色级序的升降变化。 ??? ④试板上光率体椭圆半径的名称是已知的,据此,即可确定矿片上光率体椭圆半径名称。 ;二、干涉色级序的观察与测定;2、楔形边法;2、楔形边法;3、利用石英楔测定干涉色级序;基本原理;(二)矿片???度(d)的测定方法? 1、 一般d约为0.03mm,若测定N值精度要求不高,可取d=0.03mm。 2、精度要求高时,可用已知双折率的矿物(如石英)测定d。可在锥光镜下检查其是否为∥OA(AP)切面,若是则应用贝瑞克补色器测定其光程差。利用所测的光程差及已知的最大双折率,可求出矿片厚度。 (三)根据所测光程差及矿片厚度求双折率(N) 根据所测光程差和矿片厚度,在干涉色色谱表上查双折率;根据R=d(N1-N2)计算双折率。;四、消光类型及消光角的测定 矿片上的光率体椭圆半径之一与矿物晶体的结晶轴有一定联系,结晶轴与解理缝或晶面迹线等有一定联系,因此,根据解理缝、双晶缝及晶面迹线等与光率体椭圆半径有一定的联系,表现为解理缝、双晶缝及晶面迹线等与目镜十字丝之间的关系,由此关系可将切面的消光类型分为三种: (一)

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