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第三章
半导体中载流子的统计分布
一、状态密度 Density of State (DOS)
状态密度g(E):
能带中能量E附近每单位能量间隔内的量子态数
dZ E – E+dE之间无限小能量间隔内的量子态数
g(E) =
dE 能量间隔
计算步骤 :
a. 单位k空间中的量子态数 k空间中的状态密度 ;
b. k空间中与能量E到E+dE间所对应的k空间体积 ;
c. a*b得到能量E到E+dE间的量子态数dZ;
d. 由g(E) = dZ/dE得到状态密度 ;
k空间 以波矢k的三个互相正交的分量k , k , k 为坐标轴的直
x y z
角坐标系所描写的空间为k空间。
1、k空间的状态密度
在k空间中每个状态 (由一组n , n , n 所决定 )所
x y z
占k空间体积为1/L3
k = n /L
x x
k = n /L n , n , n = 0, ±1, ±2,……
y y x y z
k = n /L
z z
因而 ,k空间中代表点的密度,也即是k空间中电子
3 3
允许能量状态密度为1/(1/L ) = L =V(晶体体积 )
如果计入电子的自旋 ,则电子的允许量子态密度是2V
2、等能面
2 2 *
一维情况 导带底 :E(k)-E(0) = hk /2mn
2 2 *
价带顶 :E(k)-E(0) = - hk /2mp
2 2 2 2 *
三维情况 E(k)-E(0) = h (k +k +k )/2m
x y z n
(k -k )2 (k -k )2 (k -k )2
x x0 y y0 z z0
+ + = 1
2m *(E-E ) 2m *(E-E ) 2m *(E-E )
x 0 y 0 z 0
h2 h2 h2
当E(k)为某一定值时 ,对应于许多组不同的( k、k 、
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