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- 2022-06-15 发布于江苏
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SZT-2A 四探针测试仪
使用说明书
一概述
SZT-2A 型数字式四探针测试仪是运用四线法测量原理的多用途 综合测量装置,配上专用的四探针测试架,即可以测量片状,块状或
柱状半导体材料的径向和轴向电阻率, 测量扩散层的薄层电阻 (亦称 方块电阻)。四探针测试架有电动,手动,手持三种可以选配,另外 还配有四个夹子的四线输入插头用来作为测量线状或片状电阻的 中,低阻阻值。
仪器由主机,测试架等部份组成,测试结果由液晶显示器显示, 同时,液晶显示器还显示测量类型(电阻率,方块电阻和电阻)以及 探头修正系数,
主机由开关电源, DC/DC 变换器,高灵敏度电压测量部份,高稳 定度恒流源,和微电脑控制系统组成。由於采用大规模集成电路,所 以仪器可靠性高,测量稳定性好。
测试探头采用宝石导向轴套和高硬度钢针, 定位准确,游移率小, 使用寿命长。
仪器适用於半导体材料厂,半导体器件厂,科研单位,高等院校对半 导体材料电阻性能的测试。
本仪器工作条件为:
温 度: 23℃ ±3℃
相 对 湿 度: 50%~70%
2
工作室内应无强磁场干扰,不与高频设备共用电源。 二,技术参数
1, 测量范围
电阻率: 10??-105?-cm
方块电阻 10??- 105?/□
电阻 10- - 105 ?
2,可测半导体材尺寸
直
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