如何合理构建DAC1ppm模数转换精密仪器设计解决方案.docx

PAGE 1 PAGE 1 如何合理构建DAC1ppm模数转换精密仪器设计解决方案 为了提高仪器仪表系统的精度，数模转换器的性能已经突破16位，而以前必需采纳笨重、昂贵、慢速的Kelvin-Varley分压器才能达到这一性能水平。 然而，随着时间的推移，市场和技术不断进展，关于精密数模转换器的定义也已发生变化。半导体处理技术、DAC设计和校准技术的进展使高线性度数模转换器成为可能。这种转换器不仅稳定性好、建立时间短，而且能供应优于1ppm的20位性能。这类小型IC保证性能规格，无需校准且简洁易用。  1ppm DAC的应用范围掩盖从医疗MRI系统中的梯度线圈掌握到质谱测定、测试和测量应用中的精密源和定位。   性能指标  图1所示电路供应1ppm性能，其关键技术指标是积分非线性度、微分非线性度和0.1Hz至10Hz峰峰值噪声。  图1中，U1是一个具有1ppm线性度指标的20位DAC.U2是一个精密双通道放大器，用作DAC基准电压输入的驱动-检测缓冲器。U3是一个精密输出缓冲器，用于驱动负载，其关键要求与基准电压缓冲器相像，其中包括低噪声、低失调电压、低漂移和低输入偏置电流。  虽然有1ppm以下的精密元件可供使用，但构建1ppm系统并非易事，不行等闲视之。1ppm精度电路中的主要误差源为噪声、温度漂移和热电电压。  *噪声  为实现真正的1ppm系统，必需将噪声降至水平。U1的噪声频谱密度为7.5 nV/vHz.U2和U3的额定噪声密度为2.8 nV/vHz,远远低于DAC的噪声贡献。  宽带噪声可以通过滤波消退，但0.1Hz至10Hz范围内的低频噪声（1/f）却无法滤除。要尽量降低这一噪声，有效的方法在于器件优化和选择。U1在 0.1Hz至10Hz带宽下产生0.6μV p-p噪声，远低于1LSB（对于±10V输出，1LSB = 19μV）。系统中1/f噪声的设计目标值应为0.1LSB或2μV左右。信号链中的三个放大器在电路输出端总共产生大约0.2μV p-p的噪声。加上U1的0.6μV p-p噪声，估计总1/f噪声为0.8μV p-p.  *温度漂移  温度漂移是精密电路中的另一个主要误差源。U1的温度系数为0.05ppm/℃。U2的漂移系数为0.6μV/℃，即总体会向电路中引入0.03ppm /℃的漂移。同时U3再贡献0.03ppm/℃的输出漂移，这样三者相加后为0.11 ppm/℃。对于调整和增益电路，建议使用低漂移、热匹配电阻网络，如Vishay的300144Z和300145Z.  *热电电压  热电电压是塞贝克（Seebeck）效应的结果：异质金属结面处会产生与温度相关的电压。所产生的电压在0.2μV/℃（铜-铜结面）至1mV/℃（铜-铜氧化物结面）之间。  热电电压表现为与1/f噪声相像的低频漂移。使全部连接保持干净，消退氧化物，并且屏蔽电路使其不受气流影响，可以大幅降低热电电压。下图显示了开放式电路与屏蔽式电路在电压漂移上的差异。   开放式系统和封闭式系统的电压漂移与时间关系长期稳定性  精密模拟IC虽然很稳定，但的确会发生长期老化变化。DAC的长期稳定性一般好于0.1ppm/1000小时，但老化不具累积性质，而是遵循平方根规章。若某个器件的老化速度为1ppm/1000小时，则2000小时老化2ppm,3000小时老化3ppm,依此类推。一般地，温度每降低25°C,时间就会延长10倍；因此，当工作温度为100°C时，在10000小时的期间（约60星期），估计老化为0.1ppm.以此类推，在10年期间，估计老化为 0.32ppm.  电路构建和布局  在注意精度的电路中，细心考虑电源和接地回路布局有助于确保达到额定性能。在设计PCB时，应采纳模拟部分与数字部分相分别的设计，并限制在电路板的不同区域内。  必需采纳足够大（10μF）的电源旁路电容，与每个电源上的0.1μF电容并联，并且尽可能靠近封装。这些电容应具有低等效串联电阻和低等效串联电感。各电源线路上若串联一个铁氧体磁珠，则可进一步降低通过器件的高频噪声。  电源线路应采纳尽可能宽的走线，以供应低阻抗路径，并减小电源线路上的毛刺噪声影响。时钟等快速开关信号应利用数字地屏蔽起来，以免向电路板上的其它器件辐射噪声，并且绝不应靠近基准输入或位于封装之下。避开数字信号与模拟信号交叉，且它们在电路板相反两侧上的走线应彼此垂直，以减小电路板的馈通影响。  构建1ppm模数转换解决方案  一种典型的现代1ppm模数转换解决方案由两个16位数模转换器构成--一个主DAC和