材料的表征方法总结.docxVIP

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2022-07-22 发布于江苏
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材料的表征方法总结.docx

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材料的表征方法 2.3.1 X 一射线衍射物相分析粉末 X 射线衍射法，除了用于对固体样品进行物相分析外，还可用来测定晶体结构的晶胞参数、点阵型式及简单结构的原子坐标。 X 射线衍射分析用于物相分析的原理是:由各衍射峰的角度位置所确定的晶面间距d 以及它们的相对强度 Ilh 是物质的固有特征。而每种物质都有特定的晶胞尺寸和晶体结构，这些又都与衍射强度和衍射角有着对应关系，因此，可以根据衍射数据来鉴别晶体结构。此外，依据 XRD 衍射图，利用 Schercr 公式: (2 ) KLcos 式中 p 为衍射峰的半高宽所对应的弧度值;K 为形态常数，可取 0.94 或 0.89;为