原创力文档- 1、本文档共192页，其中可免费阅读58页，需付费1100金币后方可阅读剩余内容。
- 2、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。
- 3、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 4、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
查看更多
泓域咨询/新余晶圆测试项目可行性研究报告
报告说明
集成电路测试技术水平的核心在于测试软硬件和测试方案的研发能力。在晶圆测试阶段，测试企业需将开发完成的测试程序下载到自动测试设备，通过测试探针卡对探针台载片台上的晶圆进行芯片功能性能检测；在成品测试阶段，测试企业需通过自动机械手自动切换测试接口夹具中的封装成品，实现自动测试设备对芯片功能、性能的检测。测试方案研发是基于不同的芯片种类、测试项目、故障覆盖率、测试效率等对测试机台、测试硬件的统筹调配，以达到在成本可控、满足故障覆盖率要求下提升测试效率的效果，如晶圆测试是对探针台与测试机的统筹调配，实现对不同尺寸、不同工艺制程的晶圆进行测试，并优化测
文档评论（0）