材料分析方法 试题答案 西安理工大学.docxVIP

2010 命题教师 年 秋 季学期《材料分析测试方法》试卷 A 卢正欣 系主任审核 考试形式 闭卷 考试类型 √学位课 非学位课 （请打√选择） 考试班级 材物 081~082 ， 材化 考试 081~082，材 081~084 日期 2010 年 12 月 21 日 考试 2 小时时间 班 级 姓名 学号 成绩 注意：1．命题时请适当留答题位置。请用深蓝色墨水书写，字、图清晰，书写不出边框。 2．答题演草时不许使用附加纸，试卷背面可用于演草。试卷不得拆开。 一、 填空：（每题 2 分，共 20 分） X 射线产生的三个基本条件是： 、 、 。 电子显微分析可获得材料的 、 和 方面的信息，并且可以将三者结合起来。 X 射线衍射的强度主要取决于 因子、 因子、 因子、 因子和 因子。 是衍射的必要条件； 是衍射的充分条件。 电子显微镜的分辨本领高是由于电子波的 ，其理论分辨本领是由 和 综合作用的结果。 透射电子显微像的衬度来源于质厚衬度和衍射衬度，其中 衬度主要用于解释晶体样品， 衬度主要用于解释非晶样品。 在 X 射线衍射仪中，若 X 射线管固定，当样品转动? 角时，X 射线探测器应转动 角；若样品固定，当X 射线管转动? 角时，X 射线探测器应转动 角。 在透射电镜中, 明场（BF）像是用 光阑挡掉 束，只允许 束通过光阑成的像。 教务处印制 共 8 页 （第 1 页） 电子探针利用的是高能电子与固体样品作用产生的 信号，按照对信号的色散方式不同分为 仪和 仪。 俄歇电子能谱利用的是 与固体样品作用所产生的 信号，通过检测该信号的 来确定所含元素的表面分析方法。 二、 选择：（1-8 每题 2 分，9 题 4 分，共 20 分） 分析多晶衍射花样时，若各衍射线对应的 Sin2θ 比（X 射线衍射）或 R2 比（电子衍射）的序列为 3：4：8：11：12……, 则可确定该物相结构为 。 A、简单立方 B、体心立方 C、面心立方 D、金刚石立方 立方晶系{111}晶面的多重性因子为 。 A、4 B、6 C、8 D、12 在 TEM 中进行选区电子衍射操作时，中间镜又起衍射镜作用，这时中间镜的物平面与物镜的 重合；选区光阑与物镜的 重合。 A、物平面 B、主平面 C、后焦面 D、像平面 扫描电镜形貌像的分辨率与 无关。 A、检测信号的类型 B、样品原子序数 C、放大倍数 D、入射束斑直径 对某立方晶系样品进行 TEM 分析，在操作矢量? ? ? 时观察到一条直线位错。倾动 ? ? g g1 ? ? 样品，在g ? g 时上述位错的衬度消失；再次倾动样品，在g ? g 2 ? 时上述位错的衬度仍消 3 失，那么该位错柏氏矢量b 的方向为 。 ? ? ? ? ? ? ? ? A、 g ? g 1 2 B、 g ? g 1 2 C、 g ? g 2 3 D、 g ? g 2 3 在下列材料成分分析仪器中， 可测试元素的范围最宽。 A、俄歇电子能谱 B、X 射线光电子能谱 C、X 射线波谱仪 D、X 射线能谱仪 X 射线衍射宏观应力测定利用的是衍射线 改变；而微观应力测定利用的是衍射线 改变。 A、强度 B、位置 C、宽度 D、形状 复型技术是将材料表面形貌复制下来进行电子显微分析的方法，其中 可用于金属与合金中析出相的分析。 A、塑料一级复型 B、碳一级复型 C、塑料－碳二级复型 D、萃取复型 根据分析测试内容选择适当的分析仪器。 材料表面的残余应力测定 ； (3) 晶体的点阵常数精确测定 晶界析出相晶体结构分析 ； (4) 界面化学成分测定 A、扫描电子显微镜 B、X 射线衍射仪 C、扫描探针显微镜 D、透射电子显微镜 E、X 射线应力仪 F、电子探针 教务处印制 共 8 页 （第 2 页） 三、 简答：（每题 4 分，共 20 分） X 射线的本质是什么？ X 射线衍射与电子衍射各有何特点。 倒易矢量 g 与正空间晶面?hkl ?的关系是什么？ hkl 扫描电子显微镜中二次电子像与背散射电子像的特点和应用有何不同？ 教务处印制 共 8 页 （第 3 页） 高能电子与固体样品作用产生的信号主要有哪些，在材料分析测试中分别有何应用。 四、 分析计算：（1~2 每题 10 分，3 题 8 分，4 题 12 分，合计 40 分） 推导布拉格定律。并说明为什么在电子衍射中当电子束平行入射（即 θ=0o 时）也可以被晶体衍射。 教务处印制 共 8 页 （第 4 页） 根据 F hkl ? ?N j ? 1 fe 2 ?i ( hx ky j lz ) j j  导出面心立方（fcc）晶体的消光规律。 式中 N 为单胞中原子数