50欧和75欧系统阻抗的S参数测试区别.pdfVIP

50欧和75欧系统阻抗的S参数测试区别 RF测试笔记是业界⼀线⼯程师们通过理论和实践相结合的⽅式介绍射频微波测试技术的专栏，主要涵盖 噪声系数、数字调制、⽮⽹、频谱分析、脉冲信号等内容。如有想看到的内容或技术问题，可以在⽂尾 写下留⾔。 1. S参数依赖于系统阻抗 S参数的定义需要约定⼀个系统阻抗。同⼀个微波电路，在不同系统阻抗下的S参数是不同的。例如，50 欧电阻在50欧系统阻抗下的S11为零，是没有反射的匹配状态；但50欧电阻在75欧系统阻抗下的S11不为 零，是有反射的不匹配状态。对于单端⼝待测件，反射系数Γ可由负载阻抗 Z l 、系统阻抗 Z 0 进⾏计算 由公式计算可知，50欧电阻在75欧系统阻抗下的反射系数线性值为-0.2 ，对数值约为-14dB。 ⽬前射频微波领域应⽤最为⼴泛的系统阻抗为50欧，但也使⽤⼀些其他的系统阻抗。例如，在⼴播电视 领域⼴泛应⽤75欧系统阻抗；USB标准中使⽤85欧和90欧的差分阻抗，对应的单端阻抗为42.5欧和45 欧。⽮量⽹络分析仪的端⼝阻抗为50欧，应该如何测量⾮50欧系统阻抗的S参数呢？ 2. 阻抗转换器 为了使⽤50欧端⼝阻抗的⽮量⽹络分析仪测试75欧系统阻抗的待测件，可以使⽤阻抗转换器将⽮⽹的端 ⼝阻抗转换为75欧。阻抗转换器是⼀个L型的匹配⽹络，它使得从75欧端⼝看去，原50欧阻抗变为了75 欧，不存在反射；同样从从50欧端⼝看去，原75欧阻抗也变为了50欧。 图1. L型阻抗转换器（Z1Z2） L型的阻抗转换器需要实现从两个⽅向看去都是⽆反射的状态，需要满⾜ 1). R2和Z2并联，再与R1串联后的阻抗等于Z1 2). Z1和R1串联，再与R2并联后的阻抗等于Z2 当Z1=75欧，Z2=50欧时，R1=43.3欧，R2=86.6欧。整个阻抗转换器的损耗约为5.7dB。 使⽤50⾄75阻抗转换器测量⾮50欧系统阻抗的待测件还是具有以下的缺点： 1). 阻抗转换器为额外的硬件，没有数学转换⽅便； 2). 测试系统还需要75欧的校准件和测试线缆； 3). 阻抗转换器具有损耗，会降低⽮⽹的性能； 4). 只能覆盖⼀种特定系统阻抗，难以推⼴⾄任意的系统阻抗。 3. 使⽤数学⽅法进⾏系统阻抗的转换 如果可以使⽤数学算法进⾏系统阻抗的转换，测量⾮50欧系统阻抗的待测件就会⽅便很多。我们可以测 量此待测件在50欧系统阻抗下的S参数，再通过数学⽅法变为任意其他系统阻抗下的S参数。 S参数矩阵在不同系统阻抗之间转换没有简单的数学公式可以实现。为了简化对此问题的理解，我们可 以借助Z参数矩阵（即阻抗参数）来理解。阻抗参数可以不依赖系统阻抗，称为阻抗参数[Z]；也可以按 照系统阻抗进⾏归⼀化，称为归⼀化的阻抗参数。如果各端⼝的系统阻抗均为Z 0 ，则 可见Z参数不依赖于系统阻抗，Z参数按某⼀系统阻抗归⼀化的公式很简单。归⼀化Z参数在不同系统阻 抗之间切换也⾮常的简易。同时按某⼀系统阻抗归⼀化的Z参数与此系统阻抗下的S参数[S]之间可以通过 公式进⾏转换。 常的简易。同时按某⼀系统阻抗归⼀化的Z参数与此系统阻抗下的S参数[S]之间可以通过公式进⾏转换。 因此，我们可以按此步骤理解在数学上如何实现S参数在不同系统阻抗之间转换。 1). ⾸先将50欧系统阻抗(记为Z 0 )的S参数转换为50欧归⼀化的Z参数； 2). 将按50欧归⼀化的Z参数转换为不归⼀化的Z参数； 3). 将Z参数按其他系统阻抗Z 0 归⼀化，归⼀化后记为； 4). 将按系统阻抗Z 0 归⼀化的Z参数转换为S参数[S]。 4. ⽮⽹实测结果 将S参数在不同系统阻抗之间转换的数学计算⾮常复杂，但其实际操作却⾮常简单。⽮量⽹络分析仪⽀ 持修改系统阻抗，这样就可以显⽰任意系统阻抗的S参数。 ⾸先，⽮⽹测量得到50欧系统阻抗下的S参数。下图为50欧双阴直通的测试结果，S11约为-35dB ，S21约 为-0.01dB。 图2. 50欧系统阻抗时的测试结果 然后，在⽮⽹的设置中修改系统阻抗。 图3. ⽮⽹修改系统阻抗的设置界⾯ 最后，修改系统阻抗后S参数曲线数值会发⽣变化，得到其他⾮50欧系统阻抗的S参数。从下图中可以看 出，当系统阻抗修改为75欧后，Z参数不变，⽽S参数发⽣变化。S11由-35dB变为约-13.5dB ，S21 由-0.01dB变为约-0.2dB。S11变化后的结果与理论计算的50欧负载在75欧系统中的反射系数⼀致。S21的 变化则是由于有轻微的反射导致的传输系数下降。 图4. 75欧系统阻抗时的测试结果 以上便是要给⼤家分享的内容，希望对⼤家有所帮助~~ 作者：皓⽉ 最新研讨会： 实验教学创新 – ⼤学远程实