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一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置.pdfVIP

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  • 2022-12-28 发布于四川
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一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置.pdf

    本实用新型提供了一种集成电路电磁辐射抗扰度测试装置，包括：干扰信号发生单元产生射频干扰信号，通过屏蔽电缆传递至位于全电波暗室内的极化天线，极化天线经过校准和调节，精准对准屏蔽箱体开孔的中心，再经过强场探头和场强监测仪对感应到场强进行监测和反馈，调节导轨滑块组合体，使极化天线产生的强场达到预定强场范围，将与受试IC进行连接的IC试验板覆盖于开口处，以此使受试IC的受试面最大限度接收射频干扰信号，并防止受试IC的非受试面接收到射频干扰信号，通过测试台监测受试IC的工作状态并对电磁辐射抗扰度进行评估。

    (19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218122115 U (45)授权公告日 2022.12.23 (21)申请号 202221350806.X (22)申请日 2022.05.31 (73)专利权人 中国电子技术标准

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