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SPECT性能检测方法 性能检测所需设备与用具 所需设备与用具包括： 点源； 线源； 泛源； 活度计； 狭缝铅栅； 其他检定用设备。 性能检测方法 探头固有性能检测 固有空间分辨力 使用99mTc点源，调节计数率使计数率小于20 KCPS，能量窗宽采用临床常见模式。 拆除准直器，探头上放置UFOV环与狭缝铅栅。 点源置于距探头表面中心距离5倍的UFOV最大直径距离，使狭缝铅栅分别平行于X方向和Y方向。 在图像中分别在UFOV和CFOV读取能分辨清晰的铅栅间隔。 根据公式（A.1）计算固有空间分辨力。 FWHM=1.75×N (A. seq fulu_equation_133136682095312733 1) 式中： N——铅栅间隔，单位为毫米（mm）。 按所使用的像素采集尺寸（mm/pixel）将FWHM换算成单位mm，分别计算X方向的FWHM（UFOV）和FWHM（CFOV），Y方向的FWHM（UFOV）和FWHM（CFOV）。 固有空间线性 测试条件、测试设备、测量步骤同固有空间分辨力。测量平行铅栅是否有畸变或变形。将畸变的铅栅距离按所使用的像素采集尺寸（mm/pixel）将其换算成单位mm按作为固有空间线性值。 固有能量分辨力 使用99mTc点源，调节计数率使计数率小于20 KCPS，能量窗宽采用临床常见模式。 使用57Co作为参考点源，分别测量2种点源的能窗。 拆除准直器，将点源置于距探头表面中心距离5倍的UFOV最大直径距离，采集计数保证在峰道上每个线扩展函数的采集数大于10 KCPS，利用设备自带的多道分析器测量99mTc和57Co能谱。利用设备自带软件计算99mTc光电峰的FWHM。 根据公式（A.2）计算能量分辨力。 CV=FWHM140.5×100% (A. seq fulu_equation_133136682095312733 2) 式中： CV——能量分辨力，%。 固有面均匀性 使用99mTc点源，调节计数率使计数率小于20 KCPS，能量窗宽采用临床常见模式，采用能量、线性、均匀性校准。 将点源置于距探头表面中心距离5倍的UFOV最大直径距离，采集矩阵6.4 mm±30%方形，成像中心像素计数至少10000。 在UFOV分析中，像素计数要大于50%在UFOV内。 像素在UFOV内，但计数小于CFOV内平均计数75%的做置0处理，像素周边直接相邻的边缘像素如有一个为0计数，则该像素做置0处理。 UFOV数据与CFOV数据泛源图像用矩阵（A.3）作平滑处理。 121242121 在UFOV和CFOV范围内找到计数的最大值Cmax和最小值Cmin，用公式（A.4）分别计算UFOV和CFOV的积分均匀性。 沿X方向和Y方向分别将相邻的五个像素组成一组，分别逐个计算两个方向上各个像素组中任意两个像素的计数的最大差值，从计算的结果中在UFOV范围或CFOV范围内找到出最大差值中值最大的一个，用公式（A.4）分别计算UFOV和CFOV的微分均匀性。 U=±Cmax-CminCmax+ 式中： U——均匀性，%。 多窗空间重合性 将67Ga源存放在小屏蔽罐中，计数率不超过10000 CPS，能量窗宽采用67Ga 3个能峰93（±20%）、184（±20%）、296（±20%）。 将点源放置在UFOV中心点以及X、Y轴的正负方向各2个点，共9个点，1个点距UFOV视野中心的距离为视野中心到UFOV边缘距离的0.4倍，1个点距UFOV视野中心的距离为视野中心到UFOV边缘距离的0.8倍。 每个点分别按A.2.1.5.1所述3个能窗各采集1帧图像，9个源的位置共27帧图像。 在X、Y轴方向上分别计算同一源位不同能窗下图像计数分布中心在一个轴上的位移，在一个轴上以图像最大计数像素为中心向左右两边各推进多个像素直到像素计数为最大计数的二分之一，记下左右推进的像素个数，一般建议左右各推进5个像素可到达最大计数的二分之一，按1到n对推进的像素从左到右编号。根据公式（A.5）得到 Lx=j=1n(j×Cj) 式中： j——像素编号； Cj——j像素的计数值； Lx——图像的计数分布中心在X或Y轴上的对应的像素 将计算出的相同源位不同能窗的图像计数分布中心相减，得到不同能窗在X轴或Y轴上位移。将位移值的像素单位转换成mm单位。9个位点可以得到36个空间位移值，取其中最大的，得到多窗空间重合性值。 固有计数率 使用99mTc点源，能量窗宽采用临床常见模式。拆除准直器，无源的环境下计数5 min测量最大本底计数，并计算出最大本底计数率。 将源置于地面，敞口向上面向探头，位置在UFOV中心，调节源强使计数率在1000 CPS至3000 CPS之间，测100 s计数N0，记录测量经过的时刻T0；依次去除铜吸收片，分别测量20