一种基于半导体制冷组件生产用检测装置.pdfVIP

  • 1
  • 0
  • 约1.03万字
  • 约 9页
  • 2023-02-03 发布于四川
  • 举报

一种基于半导体制冷组件生产用检测装置.pdf

本实用新型公开了一种基于半导体制冷组件生产用检测装置,包括工作台、进料尺寸检测结构和制冷效率检测结构;工作台:其下表面四角对称设有支撑腿,工作台的上表面中心处设有检测箱,检测箱的底端和右侧面底端中部均为开口结构,工作台的上表面右侧中心处设有固定板,固定板的右侧面设有电机,工作台的上表面右侧前端设有水泵,水泵的出水口通过输水管一与检测箱上表面的进水口相连;进料尺寸检测结构:分别设置于工作台的上表面和固定板的左侧面,进料尺寸检测结构的上表面卡接有半导体制冷片,该基于半导体制冷组件生产用检测装置,检测

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212340320 U (45)授权公告日 2021.01.12 (21)申请号 202021569800.2 (22)申请日 2020.08.03 (73)专利权人 蔚县中天电子股份合作公司

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档