一种集成电路产品检查外观的装置.pdfVIP

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2023-02-07 发布于北京
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一种集成电路产品检查外观的装置.pdf

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本实用新型公开了一种集成电路产品检查外观的装置，包括检测台，检测台底部螺栓连接有伸缩桌架，检测台顶部设有观察视镜，检测台顶部螺栓连接有固定导轨，检测台靠近固定导轨的一侧螺栓连接有两个滑轨，滑轨外侧套设且滑动连接有滑块，滑块顶部焊接连接有移动导轨，移动导轨一侧顶部贯穿设有固定螺栓，检测台靠近移动导轨的下方位置固定连接有固定座，固定螺栓与固定螺栓螺栓连接，本实用新型具有以下优点：过将导轨改成可自由调节宽度，检验时由于产品在导轨里不能晃动，大大减少了检验时间，提升了工作效率，可调节宽度的导轨，减少在检

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218445189 U (45)授权公告日 2023.02.03 (21)申请号 202222561634.7 (22)申请日 2022.09.27 (73)专利权人上海华友金裕微电子有限公司地址