芯片测试装置和设备.pdfVIP

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  • 2023-02-07 发布于北京
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本申请实施例公开了一种芯片测试装置和设备,涉及芯片测试技术。其中,该芯片测试装置包括芯片测试模组和信号集成模块,其中:芯片测试模组上设置测试数据接口;信号集成模块包括集成数据接口和网络通信单元;测试数据接口与集成数据接口连接;芯片测试模组,用于承载待测芯片,并将待测芯片的测试数据通过测试数据接口和集成数据接口传输至网络通信单元;网络通信单元,用于将测试数据传输至外部设备。本申请实施例可以减少芯片测试数据输出至外部设备过程中对引线的依赖,提高测试方案的可靠性。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212391573 U (45)授权公告日 2021.01.22 (21)申请号 202020583978.6 (22)申请日 2020.04.17 (73)专利权人 北京百度网讯科技有限公司

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