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一种微型激光芯片老化测试系统.pdfVIP

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  • 2023-02-10 发布于四川
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一种微型激光芯片老化测试系统.pdf

    本实用新型公开了一种微型激光芯片老化测试系统，涉及微型激光器测试领域，其包括上电模块、温控模块和机架模块，所述上电模块、温控模块均安装于所述机架模块上，所述温控模块包括设置于机架模块上的风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱，老化子箱内设置有微型激光芯片，所述风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱相互电连接；所述温控模块用于控制各个老化子箱的温度；所述上电模块用于为各个老化子箱中的微型激光芯片供电。整个系统能够用于对不同规格型号的微型激光芯片的老化测试，且能够在多个通道集中进行老化测

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212433335 U (45)授权公告日 2021.01.29 (21)申请号 202021232990.9 (22)申请日 2020.06.30 (73)专利权人 武汉普斯讯科技有限公司

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