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一种基于X射线的珍珠层厚度测量装置.pdfVIP

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  • 2023-02-10 发布于四川
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一种基于X射线的珍珠层厚度测量装置.pdf

    本实用新型涉及一种基于X射线的珍珠层厚度测量装置，所述测量装置包括依次设置的X射线源、三轴测试盒和X射线探测器，其中，所述三轴测试盒为标准立方体结构，其中心设有样品容纳腔，所述标准立方体的每一面上都开设有镂空窗口。与现有技术相比，本实用新型具有精度高、测量全面快等优点。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212432076 U (45)授权公告日 2021.01.29 (21)申请号 202021176401.X (22)申请日 2020.06.22 (73)专利权人 上海火逐光电科技有限公司

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