一种用于芯片仿真的遍历型用例验证方法、系统及电子设备.pdfVIP

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  • 2023-02-10 发布于四川
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一种用于芯片仿真的遍历型用例验证方法、系统及电子设备.pdf

本发明公开了一种用于芯片仿真的遍历型用例验证方法、系统及电子设备,该方法包括:基于待验证块的数量产生控制序列以根据控制序列控制待验证块的用例执行;生成用例测试矩阵,根据二维数据结构对每个待验证块依次执行相应的用例,当待验证块用例执行结果与预设结果一致时,将该用例测试矩阵对应置0,当待验证块用例执行结果与预设结果不一致时,将该用例测试矩阵对应置1,当控制序列执行完成时形成验证矩阵;根据验证矩阵生成二维数据结构中的控制字索引的子集,计算子集中元素的数量与控制字集合中总元素的数量的比值大于预设第二比例

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114996076 A (43)申请公布日 2022.09.02 (21)申请号 202210774112.7 (22)申请日 2022.07.01 (71)申请人 北京联盛德微电子有限责任公司 地址

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