芯片拉力测试治具.pdfVIP

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  • 2023-02-22 发布于四川
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本实用新型提供一种芯片拉力测试治具,包括连接主体和用于与芯片模块卡合的卡勾,卡勾包括安装板块和多个卡勾本体,各卡勾本体与安装板块相连,安装板块可转动地与连接主体相连。本实用新型的芯片拉力测试治具能够实现对芯片模块的拉力测试,并且芯片拉力测试治具操作简易、使用便捷,使整个测试过程简易、便捷、高效,可节约工时、人力。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212780449 U (45)授权公告日 2021.03.23 (21)申请号 202021316819.6 (22)申请日 2020.07.07 (73)专利权人 昆山丘钛生物识别科技有限公司

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