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- 2023-02-22 发布于四川
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本申请提供一种芯片测试模组。该芯片测试模组包括:安装座,用于安装待测芯片;及内载板组件,与安装座装配在一起,内载板组件包括内载板、第一针载板、第二针载板,内载板安装于第一针载板和第二针载板之间,第一针载板设有与待测芯片和内载板电连接的第一导电元件,第二针载板设有与内载板电连接的第二导电元件和通信接口,内载板用于安装测试芯片,测试芯片通过内载板、第一导电元件与待测芯片电连接,用于对待测芯片进行测试,并通过通信接口将测试结果输出。该芯片测试模组解决了测试芯片和待测芯片之间的信号完整性问题。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 212781099 U
(45)授权公告日 2021.03.23
(21)申请号 202021223303.7
(22)申请日 2020.06.28
(73)专利权人 深圳市大疆创新科技有限公司
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