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芯片测试组件和芯片测试装置.pdfVIP

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  • 2023-02-23 发布于北京
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芯片测试组件和芯片测试装置.pdf

    本实用新型提出一种芯片测试组件和芯片测试装置，其中，芯片测试组件包括测试板、被测组件板和连接组件，测试板连接测试设备，被测组件板上的多个安装位安装多个被测芯片，测试板与被测组件板通过一个第一牛角座、一个连接组件和一个第二牛角座连接并实现多通道多芯片测试，解决了因测试板和被测组件板上分别存在多个牛角座时非匹配的牛角座之间安插错误的问题，提高了测试准确性和效率。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212808508 U (45)授权公告日 2021.03.26 (21)申请号 202021223630.2 (22)申请日 2020.06.29 (73)专利权人 深

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