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本实用新型提供一种引脚测试探针结构，包括引脚测试探针和导电凸部，引脚测试探针包括安装部和测试部，测试部具有第一端部和第二端部，第一端部连接安装部，第二端部远离安装部，第一端部至第二端部宽度逐渐变小，导电凸部设置在第二端部的侧面上。较佳地，导电凸部为导电凸台，导电凸台的底面设置在第二端部的侧面上。导电凸部为耐磨导电凸部。导电凸部焊接在第二端部的侧面。安装部沿安装部的厚度方向设置有安装孔。本实用新型的引脚测试探针结构能够提高测试探针寿命，稳定测试良率，提高生产效率，设计巧妙，结构简洁，制造简便，成本
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 212905256 U
(45)授权公告日 2021.04.06
(21)申请号 202021280036.7
(22)申请日 2020.07.02
(73)专利权人 上海泰睿思微电子有限公司
知识产权出版社有限责任公司（原名专利文献出版社）成立于1980年8月，由国家知识产权局主管、主办。长期以来， 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作， 经过多年来的积累，已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。
版权声明书
用户编号：8063122115000010
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