一种半导体测试用探针座.pdfVIP

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2023-02-25 发布于四川
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一种半导体测试用探针座.pdf

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本实用新型公开了一种半导体测试用探针座，包括底座，所述底座通过卡接机构连接有探针座本体，所述探针座本体顶部固定连接有针杆，所述针杆顶部连接有针头，所述底座上设有降温机构，所述针头表面的底部固定连接有螺纹块，所述针杆顶端的表面开设有螺纹槽，所述螺纹槽内侧壁与螺纹块外侧壁螺纹连接，所述卡接机构包括两个对称的连接板，所述探针座本体两侧分别与连接板相对一侧固定连接，两个所述连接板均开设有限位槽，所述底座上开设有与限位槽相适配的连接槽。本实用新型通过连接槽、限位槽、活动块、收纳槽、伸缩杆以及复位弹簧的配合

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212904999 U (45)授权公告日 2021.04.06 (21)申请号 202021149918.X (22)申请日 2020.06.19 (73)专利权人西安和光明宸科技有限公司