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适用于芯片测试系统的测试平台.pdfVIP

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  • 2023-02-26 发布于四川
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适用于芯片测试系统的测试平台.pdf

    本实用新型公开了一种适用于芯片测试系统的测试平台，包括：承片台，其上设置待测芯片；至少一测试座，装设于所述承片台上；转接板，电性连接于所述测试座及测试电路；其中，所述待测芯片根据驱动信号进行动作后，所述测试座通过探针或键合线电性连接于所述待测芯片，所述测试电路通过所述转接板采集测量所述待测芯片的电性能参数。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212965280 U (45)授权公告日 2021.04.13 (21)申请号 202021133189.9 (22)申请日 2020.06.18 (73)专利权人 清华大学 地址 1

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